考题
使用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,应依次将四块厚度差为()螺距的平行平晶放入两测量面间,并调整平晶使其接触点在()时读数。
考题
测量上限至100mm的千分尺两工作面的平行度只能用平行平晶进行检定,才能满足要求。()
此题为判断题(对，错)。
考题
千分尺的两工作面,如果其中一个工作面与测量轴线垂直,那么两工作面的平行度用平行平晶检定时,所需平行平晶的块数为()。
A、四块B、一块C、二块
考题
测量上限至100mm的千分尺两测量面的平行度,可以用间隔为1／4螺距的四组4等量块进行检定。()
此题为判断题(对，错)。
考题
简述测量上限为100mm的外径千分尺两测量面平行度检定方法？
考题
分度值为0.02mm，测量上限≤500mm的高度游标卡尺，其量爪测量面对底座工作面的平行度在零位时不应大于0.006mm，在测量范围其它位置不应大于（）。A、0.010mmB、0.015mmC、0.006mm
考题
千分尺测量面的（）通常是同时研磨修理的。A、平面度和平行度B、平面度和准确度C、准确度和平行度D、平行度和精密度
考题
测量上限至100mm的千分尺两测量面的平行度，可以用间隔为1/4螺距的四组4等量块进行检定。
考题
用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，当千分尺测量面与平行平晶接触时，必须在测力作用下接触，也可以转动微分筒接触。
考题
如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度？
考题
怎样用Ⅰ、Ⅱ组平行平晶检定大于50～150mm千分尺的平行度？
考题
测量范围为（25~50）mm的千分尺，其测量面的平行度用何尺寸的平行平晶检定？
考题
对于千分尺测量面的平行度，可以用平行平晶检定，也可用量块进行检定，但用量块检定比用平行平晶检定精度高。
考题
用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，平行度如何确定？
考题
千分尺两测量面的平行度可用平行平晶检定。目前，我国生产的平行平晶共分四组，可用来检定0～100mm四个规格的千分尺平行度。
考题
用量块检定千分尺测量面的平行度，应注意哪些问题？
考题
单选题千分尺的两工作面，如果其中一个工作面与测量轴线垂直，那么两工作面的平行度用平行平晶检定时，所需平行平晶的块数为（）。A
四块B
一块C
二块
考题
判断题对于千分尺测量面的平行度，可以用平行平晶检定，也可用量块进行检定，但用量块检定比用平行平晶检定精度高。A
对B
错
考题
问答题怎样用Ⅰ、Ⅱ组平行平晶检定大于50～150mm千分尺的平行度？
考题
问答题如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度？
考题
问答题测量上限大于100mm千分尺，其工作面的平行度，为什么不用平行平晶检定？
考题
判断题千分尺两测量面的平行度可用平行平晶检定。目前，我国生产的平行平晶共分四组，可用来检定0～100mm四个规格的千分尺平行度。A
对B
错
考题
判断题测量上限至100mm的千分尺两测量面的平行度，可以用间隔为1/4螺距的四组4等量块进行检定。A
对B
错
考题
判断题用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，当千分尺测量面与平行平晶接触时，必须在测力作用下接触，也可以转动微分筒接触。A
对B
错
考题
问答题测量范围为（25~50）mm的千分尺，其测量面的平行度用何尺寸的平行平晶检定？
考题
问答题用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，平行度如何确定？
考题
问答题简述测量上限为100mm的外径千分尺两测量面平行度检定方法？
