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用平行平晶来检定杠杆式卡规,两测量面的平行度,检定所需平晶数的()。

  • A、一块
  • B、二块
  • C、三块

参考答案

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考题 使用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,应依次将四块厚度差为()螺距的平行平晶放入两测量面间,并调整平晶使其接触点在()时读数。

考题 测量上限至100mm的千分尺两工作面的平行度只能用平行平晶进行检定,才能满足要求。() 此题为判断题(对,错)。

考题 千分尺的两工作面,如果其中一个工作面与测量轴线垂直,那么两工作面的平行度用平行平晶检定时,所需平行平晶的块数为()。 A、四块B、一块C、二块

考题 用平行平晶来检定杠杆式卡规,两测量面的平行度,检定所需平晶数的()。 A、一块B、二块C、三块

考题 用平晶检定测量面的平面度时,其计算平面度的公式为F=λb/2a或F=n.λ/2,式中λ在任何条件下都为0.6。

考题 用平行平晶检定测微类量具的测量面平行性时,应在千分尺的测量范围内()选择和使用。

考题 检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。

考题 用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,当千分尺测量面与平行平晶接触时,必须在测力作用下接触,也可以转动微分筒接触。

考题 如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度?

考题 怎样用Ⅰ、Ⅱ组平行平晶检定大于50~150mm千分尺的平行度?

考题 测量范围为(25~50)mm的千分尺,其测量面的平行度用何尺寸的平行平晶检定?

考题 对于千分尺测量面的平行度,可以用平行平晶检定,也可用量块进行检定,但用量块检定比用平行平晶检定精度高。

考题 测量上限大于100mm千分尺,其工作面的平行度,为什么不用平行平晶检定?

考题 用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,平行度如何确定?

考题 用平晶检定工作面的平面度,是一种光波干涉法测量,那么产生光波干涉的条件是什么?

考题 千分尺两测量面的平行度可用平行平晶检定。目前,我国生产的平行平晶共分四组,可用来检定0~100mm四个规格的千分尺平行度。

考题 单选题用平行平晶来检定杠杆式卡规,两测量面的平行度,检定所需平晶数的()。A 一块B 二块C 三块

考题 单选题千分尺的两工作面,如果其中一个工作面与测量轴线垂直,那么两工作面的平行度用平行平晶检定时,所需平行平晶的块数为()。A 四块B 一块C 二块

考题 填空题用平行平晶检定测微类量具的测量面平行性时,应在千分尺的测量范围内()选择和使用。

考题 判断题对于千分尺测量面的平行度,可以用平行平晶检定,也可用量块进行检定,但用量块检定比用平行平晶检定精度高。A 对B 错

考题 问答题怎样用Ⅰ、Ⅱ组平行平晶检定大于50~150mm千分尺的平行度?

考题 问答题如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度?

考题 问答题测量上限大于100mm千分尺,其工作面的平行度,为什么不用平行平晶检定?

考题 判断题千分尺两测量面的平行度可用平行平晶检定。目前,我国生产的平行平晶共分四组,可用来检定0~100mm四个规格的千分尺平行度。A 对B 错

考题 填空题外径千分尺测量面平行度,可以用平行平晶也可以用量块检定。但是在用量块检定时,应选择尺寸在杠杆千分尺测量上、下限之间的量块,其尺寸间隔为测杆的()的四块量块。

考题 判断题用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,当千分尺测量面与平行平晶接触时,必须在测力作用下接触,也可以转动微分筒接触。A 对B 错

考题 问答题测量范围为(25~50)mm的千分尺,其测量面的平行度用何尺寸的平行平晶检定?

考题 问答题用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,平行度如何确定?