考题
高度游标卡尺测量爪尺寸用()检定,其测量面的平行度,可用分度值为()的测微计进行检定。
考题
测量上限至100mm的千分尺两测量面的平行度,可以用间隔为1／4螺距的四组4等量块进行检定。()
此题为判断题(对，错)。
考题
测量范围为0－25mm的千分尺,其量程为25mm。()
此题为判断题(对，错)。
考题
测量基本尺寸为52mm的尺寸，应选用25~50mm千分尺。( )此题为判断题(对，错)。
考题
用千分尺测量铝制工件,工件尺寸L=1200mm,温度t2=25℃,千分尺温度t=18℃,求产生的测量温差.
考题
测量范围为25～50mm的千分尺测砧与测微螺杆工作面的相对偏移量应不大于0.1mm。
考题
在使用外径千分尺测量前，必须校对其零位，也即通常所称的对零位。对于测量范围（）时，应在两测量面间安放尺寸为其测量下限的对量棒后进行测量。A、0~25毫米B、25~50毫米C、25~100毫米D、大于25毫米
考题
表盘刻度值为2μm，测量范围为0～25mm和25～50mm的杠杆千分尺，其测量时总误差不应大于（）μm；所用的校对量杆，其尺寸偏差不应超过（）μm。
考题
当工件的厚度为24mm时，可选择测量范围为25～50的千分尺进行测量。
考题
深度千分尺用于测量孔，键槽的深度及台阶的高度尺寸，测量范围有0—50mm和25—100mm两种。
考题
某一测量范围为0~25mm的外千分尺，当活动测杆与测，可靠接触时，其读数为+0.02mm，若用比千分尺测工件尺寸，读数为10.95mm，其修正后的测量结果
考题
千分尺的测量范围为（）时不需要校对用的量杆A、（0～25）mmB、（25～50）mmC、（50～75）mmD、（75～100）mm
考题
测量上限至100mm的千分尺两测量面的平行度，可以用间隔为1/4螺距的四组4等量块进行检定。
考题
用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，当千分尺测量面与平行平晶接触时，必须在测力作用下接触，也可以转动微分筒接触。
考题
测量上限大于100mm千分尺，其工作面的平行度，为什么不用平行平晶检定？
考题
用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，平行度如何确定？
考题
对于0-25mm的公法线千分尺用（）调整其测量下限；对测量范围的测量下限位置的调整用（）进行调整。
考题
测量范围为0-25mm的千分尺，其量程为25mm。
考题
填空题对于0-25mm的公法线千分尺用（）调整其测量下限；对测量范围的测量下限位置的调整用（）进行调整。
考题
问答题测量上限大于100mm千分尺，其工作面的平行度，为什么不用平行平晶检定？
考题
判断题测量范围为0-25mm的千分尺，其量程为25mm。A
对B
错
考题
填空题外径千分尺测量面平行度，可以用平行平晶也可以用量块检定。但是在用量块检定时，应选择尺寸在杠杆千分尺测量上、下限之间的量块，其尺寸间隔为测杆的（）的四块量块。
考题
判断题测量上限至100mm的千分尺两测量面的平行度，可以用间隔为1/4螺距的四组4等量块进行检定。A
对B
错
考题
单选题千分尺的测量范围为（）时不需要校对用的量杆A
（0～25）mmB
（25～50）mmC
（50～75）mmD
（75～100）mm
考题
问答题测量范围为（25~50）mm的千分尺，其测量面的平行度用何尺寸的平行平晶检定？
考题
问答题某一测量范围为0~25mm的外千分尺，当活动测杆与测，可靠接触时，其读数为+0.02mm，若用比千分尺测工件尺寸，读数为10.95mm，其修正后的测量结果
考题
问答题用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，平行度如何确定？
