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判断题
用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,当千分尺测量面与平行平晶接触时,必须在测力作用下接触,也可以转动微分筒接触。
A

B


参考答案

参考解析
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考题 如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度?

考题 怎样用Ⅰ、Ⅱ组平行平晶检定大于50~150mm千分尺的平行度?

考题 测量范围为(25~50)mm的千分尺,其测量面的平行度用何尺寸的平行平晶检定?

考题 对于千分尺测量面的平行度,可以用平行平晶检定,也可用量块进行检定,但用量块检定比用平行平晶检定精度高。

考题 测量上限大于100mm千分尺,其工作面的平行度,为什么不用平行平晶检定?

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考题 千分尺两测量面的平行度可用平行平晶检定。目前,我国生产的平行平晶共分四组,可用来检定0~100mm四个规格的千分尺平行度。

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考题 单选题千分尺的两工作面,如果其中一个工作面与测量轴线垂直,那么两工作面的平行度用平行平晶检定时,所需平行平晶的块数为()。A 四块B 一块C 二块

考题 填空题用平行平晶检定测微类量具的测量面平行性时,应在千分尺的测量范围内()选择和使用。

考题 判断题对于千分尺测量面的平行度,可以用平行平晶检定,也可用量块进行检定,但用量块检定比用平行平晶检定精度高。A 对B 错

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考题 判断题千分尺两测量面的平行度可用平行平晶检定。目前,我国生产的平行平晶共分四组,可用来检定0~100mm四个规格的千分尺平行度。A 对B 错

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