考题
使用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,应依次将四块厚度差为()螺距的平行平晶放入两测量面间,并调整平晶使其接触点在()时读数。
考题
测量上限至100mm的千分尺两工作面的平行度只能用平行平晶进行检定,才能满足要求。()
此题为判断题(对，错)。
考题
千分尺的两工作面,如果其中一个工作面与测量轴线垂直,那么两工作面的平行度用平行平晶检定时,所需平行平晶的块数为()。
A、四块B、一块C、二块
考题
用平行平晶来检定杠杆式卡规,两测量面的平行度,检定所需平晶数的()。
A、一块B、二块C、三块
考题
用平行平晶或量块同时测量一把千分尺的平行度，测量结果可能产生一个合格，一个不合格。
考题
用平晶检定千分尺工作面时出现“一片色”（没有明显条纹），则说明（）很好A、平面度B、平行度C、光洁度D、准确度
考题
用平晶检定千分尺工作面时出现（）干涉条纹，则说明被检千分尺工作面非常平整A、直线形B、圆形C、平行的弧线D、直线形、圆形和平行的弧线
考题
用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，当千分尺测量面与平行平晶接触时，必须在测力作用下接触，也可以转动微分筒接触。
考题
如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度？
考题
怎样用Ⅰ、Ⅱ组平行平晶检定大于50～150mm千分尺的平行度？
考题
测量范围为（25~50）mm的千分尺，其测量面的平行度用何尺寸的平行平晶检定？
考题
对于千分尺测量面的平行度，可以用平行平晶检定，也可用量块进行检定，但用量块检定比用平行平晶检定精度高。
考题
测量上限大于100mm千分尺，其工作面的平行度，为什么不用平行平晶检定？
考题
用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，平行度如何确定？
考题
千分尺两测量面的平行度可用平行平晶检定。目前，我国生产的平行平晶共分四组，可用来检定0～100mm四个规格的千分尺平行度。
考题
单选题用平行平晶来检定杠杆式卡规，两测量面的平行度，检定所需平晶数的（）。A
一块B
二块C
三块
考题
单选题用平晶检定千分尺工作面时出现（）干涉条纹，则说明被检千分尺工作面非常平整A
直线形B
圆形C
平行的弧线D
直线形、圆形和平行的弧线
考题
判断题对于千分尺测量面的平行度，可以用平行平晶检定，也可用量块进行检定，但用量块检定比用平行平晶检定精度高。A
对B
错
考题
问答题如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度？
考题
问答题测量上限大于100mm千分尺，其工作面的平行度，为什么不用平行平晶检定？
考题
判断题千分尺两测量面的平行度可用平行平晶检定。目前，我国生产的平行平晶共分四组，可用来检定0～100mm四个规格的千分尺平行度。A
对B
错
考题
判断题用平行平晶或量块同时测量一把千分尺的平行度，测量结果可能产生一个合格，一个不合格。A
对B
错
考题
填空题外径千分尺测量面平行度，可以用平行平晶也可以用量块检定。但是在用量块检定时，应选择尺寸在杠杆千分尺测量上、下限之间的量块，其尺寸间隔为测杆的（）的四块量块。
考题
判断题用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，当千分尺测量面与平行平晶接触时，必须在测力作用下接触，也可以转动微分筒接触。A
对B
错
考题
单选题用平晶检定千分尺工作面时出现“一片色”（没有明显条纹），则说明（）很好A
平面度B
平行度C
光洁度D
准确度
考题
问答题测量范围为（25~50）mm的千分尺，其测量面的平行度用何尺寸的平行平晶检定？
考题
问答题用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，平行度如何确定？
