考题
使用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,应依次将四块厚度差为()螺距的平行平晶放入两测量面间,并调整平晶使其接触点在()时读数。
考题
测量上限至100mm的千分尺两工作面的平行度只能用平行平晶进行检定,才能满足要求。()
此题为判断题(对，错)。
考题
测量上限至100mm的千分尺两测量面的平行度,可以用间隔为1／4螺距的四组4等量块进行检定。()
此题为判断题(对，错)。
考题
简述测量上限为100mm的外径千分尺两测量面平行度检定方法？
考题
用平行平晶检定测微类量具的测量面平行性时，应在千分尺的测量范围内（）选择和使用。
考题
测量上限至100mm的千分尺两测量面的平行度，可以用间隔为1/4螺距的四组4等量块进行检定。
考题
用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，当千分尺测量面与平行平晶接触时，必须在测力作用下接触，也可以转动微分筒接触。
考题
如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度？
考题
测量范围为（25~50）mm的千分尺，其测量面的平行度用何尺寸的平行平晶检定？
考题
测量上限大于100mm千分尺，其工作面的平行度，为什么不用平行平晶检定？
考题
零级外径千分尺示值误差用（）量块检定；1级外径千分尺，板厚、壁厚千分尺用（）量块检定，各受检点应（）于测量范围的（）上。
考题
用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，平行度如何确定？
考题
简述内径千分尺校对卡规工作尺寸和两工作面平行度的检定方法？
考题
千分尺两测量面的平行度可用平行平晶检定。目前，我国生产的平行平晶共分四组，可用来检定0～100mm四个规格的千分尺平行度。
考题
用量块检定千分尺测量面的平行度，应注意哪些问题？
考题
填空题用平行平晶检定测微类量具的测量面平行性时，应在千分尺的测量范围内（）选择和使用。
考题
问答题如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度？
考题
问答题测量上限大于100mm千分尺，其工作面的平行度，为什么不用平行平晶检定？
考题
判断题千分尺两测量面的平行度可用平行平晶检定。目前，我国生产的平行平晶共分四组，可用来检定0～100mm四个规格的千分尺平行度。A
对B
错
考题
填空题外径千分尺测量面平行度，可以用平行平晶也可以用量块检定。但是在用量块检定时，应选择尺寸在杠杆千分尺测量上、下限之间的量块，其尺寸间隔为测杆的（）的四块量块。
考题
判断题测量上限至100mm的千分尺两测量面的平行度，可以用间隔为1/4螺距的四组4等量块进行检定。A
对B
错
考题
判断题用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，当千分尺测量面与平行平晶接触时，必须在测力作用下接触，也可以转动微分筒接触。A
对B
错
考题
问答题测量范围为（25~50）mm的千分尺，其测量面的平行度用何尺寸的平行平晶检定？
考题
问答题用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，平行度如何确定？
考题
填空题零级外径千分尺示值误差用（）量块检定；1级外径千分尺，板厚、壁厚千分尺用（）量块检定，各受检点应（）于测量范围的（）上。
考题
问答题简述内径千分尺校对卡规工作尺寸和两工作面平行度的检定方法？
