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填空题
接触法探伤，对大于声束直径的缺陷，可用（）法或叫半波高度法测定缺陷大小。

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考题 单选题接触法超声波探伤，对大于声束直径的缺陷，可用（）法或叫半波高度法。A 6dBB 相对灵敏度C 绝对灵敏度D 12dB
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考题 单选题使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时，所测的结果：（）A 小于实际尺寸B 接近声束宽度C 稍大于实际尺寸D 等于晶片尺寸
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考题 填空题接触法超声波探伤，对大于声束直径的缺陷，可采用（）法或叫半波高度法测定其大小。
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考题 填空题用直探头探伤，当缺陷小于声束截面时，一般采用（）定量；当缺陷大于声束截面时，一般采用（）或（）定量。
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考题 单选题在直接接触法垂直探伤时，底面回波消失的原因的（）A 耦合不良B 缺陷面积大于声束截面C 存在与声束垂直的平面型缺陷D 以上都不是
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