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单选题
使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时,所测的结果:()
A

小于实际尺寸

B

接近声束宽度

C

稍大于实际尺寸

D

等于晶片尺寸


参考答案

参考解析
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考题 填空题接触法超声波探伤,对大于声束直径的缺陷,可采用()法或叫半波高度法测定其大小。

考题 单选题在用5MHZΦ10晶片的直探头作水浸探伤时,所测结果:()A 小于实际尺寸B 接近声束宽度C 大于实际尺寸D 等于晶片尺寸

考题 填空题接触法探伤,对大于声束直径的缺陷,可用()法或叫半波高度法测定缺陷大小。

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考题 判断题半波高度法用来测量小于声束截面的缺陷的尺寸。A 对B 错

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