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判断题
在锻件检测中,对于尺寸大于声束截面的缺陷一般采用半波高度法测定缺陷的指示长度或面积。
A

B


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考题 锻件超声检测中,当缺陷回波很高、并有多次重复反射,而底波严重下降甚至消失,说明锻件中存在平行于检测面的大面积缺陷。

考题 在锻件检测中,对于尺寸大于声束截面的缺陷一般采用半波高度法测定缺陷的指示长度或面积。

考题 半高度法是指用缺陷最大反射波高度降低一半(-6dB)作为缺陷边缘的指示缺陷长度的方法。

考题 只有当工件中缺陷在各个方向的尺寸均大于声束截面时,才能采用测长法确定缺陷长度。

考题 锻件检测时,为什么由缺陷引起底波降低量的质量等级评定,仅适用于声程大于近场 区长度的缺陷?

考题 超声波检测锻件时, 当缺陷尺寸小于声束截面时,一般可采用()。A、 6dB法B、 绝对灵敏度法C、 当量法D、 以上都对

考题 在锻件检测中, 对于尺寸小于声束截面的缺陷一般采用测长法来测定缺陷的指示面积。

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考题 使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时,所测的结果:()A、小于实际尺寸B、接近声束宽度C、稍大于实际尺寸D、等于晶片尺寸

考题 超声波检测中所谓缺陷的指示长度,指的是()A、采用当量试块比较法测定的结果B、对大于声束的缺陷,采用底波对比而测得的结果C、根据缺陷反射波高和探头移动的距离而测得的结果D、缺陷定量法之一,和AVG曲线的原理相同

考题 超声探伤中所谓缺陷的指示长度,指的是()。A、采用当量试块比较法测定的结果B、对大于声束的缺陷,采用底波对比而测得的结果C、根据缺陷反射波高和探头移动的距离而测得的结果D、缺陷定量法之一,和AVG曲线的原理相同

考题 半波高度法用来测量小于声束截面的缺陷的尺寸。

考题 只有当工件中缺陷在各个方向的尺寸均大于声束截面时,才需要采用测长法确定缺陷长度。

考题 当用6dB法估计缺陷面积时,估计缺陷长度时,缺陷指示长度必须()该处的声束截面直径(或长度)。A、大于B、等于C、小于

考题 接触法超声波探伤,对大于声束直径的缺陷,可采用()法或叫半波高度法测定其大小。

考题 接触法探伤,对大于声束直径的缺陷,可用()法或叫半波高度法测定缺陷大小。

考题 单选题使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时,所测的结果:()A 小于实际尺寸B 接近声束宽度C 稍大于实际尺寸D 等于晶片尺寸

考题 填空题接触法超声波探伤,对大于声束直径的缺陷,可采用()法或叫半波高度法测定其大小。

考题 问答题锻件检测时,为什么由缺陷引起底波降低量的质量等级评定,仅适用于声程大于近场 区长度的缺陷?

考题 判断题在锻件检测中,对于尺寸大于声束截面的缺陷一般采用当量法定量。A 对B 错

考题 填空题接触法探伤,对大于声束直径的缺陷,可用()法或叫半波高度法测定缺陷大小。

考题 单选题当用6dB法估计缺陷面积时,估计缺陷长度时,缺陷指示长度必须()该处的声束截面直径(或长度)。A 大于B 等于C 小于

考题 判断题半波高度法用来测量小于声束截面的缺陷的尺寸。A 对B 错

考题 判断题锻件超声检测中,当缺陷回波很高、并有多次重复反射,而底波严重下降甚至消失,说明锻件中存在平行于检测面的大面积缺陷。A 对B 错

考题 判断题只有当工件中缺陷在各个方向的尺寸均大于声束截面时,才能采用测长法确定缺陷长度。A 对B 错

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考题 单选题超声波检测中所谓缺陷的指示长度,指的是()A 采用当量试块比较法测定的结果B 对大于声束的缺陷,采用底波对比而测得的结果C 根据缺陷反射波高和探头移动的距离而测得的结果D 缺陷定量法之一,和AVG曲线的原理相同