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半高度法是指用缺陷最大反射波高度降低一半（-6dB）作为缺陷边缘的指示缺陷长度的方法。
参考答案
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考题
按JB／T4730－2005《承压设备无损检测》规定的对缺陷自身高测定方法是依据:()
A.端部最大回波和端点衍射波法是利用回波高度B.端部最大回波法和端点衍射波法是利用回波延迟时间差C.端部最大回波法和半波高度法是利用回波高度D.半波高度法和端点衍射波法是利用回波延迟时间差
考题
以下哪些缺陷尺寸的评定方法适用于焊缝等横波检测（）A、缺陷回波高度与底面回波高度比较B、缺陷回波高度与参考反射体回波高度比较C、以缺陷回波高度与基准波高的分贝差计算当量D、缺陷指示长度测定
考题
影响缺陷反射波高度的因素有以下五个方面： ①（）； ②对被检工件来说，有探测面形状、厚度、粗糙度、晶粒结构、声速、衰减等； ③从缺陷角度看，有缺陷的深度、形状、方向、大小、内部介质等； ④耦合剂的衰减、声速、厚度等能影响反射波高度； ⑤声束的方向、扩散角、能量等也影响反射波高度。
考题
采用小角度纵波法检测实心柱形支柱瓷绝缘子，下列选项中评定不合格的有（）。A、当反射波幅达到或超过5mm深人工切槽的缺陷时B、当反射波幅大于5mm深人工切槽-6dB的表面缺陷，且缺陷指示长度超过10mm的缺陷时C、当反射波幅大于5mm深人工切槽-6dB的内部缺陷，且缺陷指示长度超过20mm的缺陷时D、当缺陷处底波与正常底波比较有明显降低时
考题
多选题以下哪些缺陷尺寸的评定方法适用于焊缝等横波检测（）A缺陷回波高度与底面回波高度比较B缺陷回波高度与参考反射体回波高度比较C以缺陷回波高度与基准波高的分贝差计算当量D缺陷指示长度测定
考题
判断题半波高度法用来测量小于声束截面的缺陷的尺寸。A
对B
错
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