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判断题
只有当工件中缺陷在各个方向的尺寸均大于声束截面时,才能采用测长法确定缺陷长度。
A
对
B
错
参考答案
参考解析
解析:
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考题
在确定缺陷当量时,通常在获得缺陷的最高回波时加以测定,这是因为:()A、只有当声束投射到整个缺陷发射面上才能得到反射回波最大值B、只有当声束沿中心轴线投射到缺陷中心才能得到反射回波最大值C、只有当声束垂直投射到工件内缺陷的反射面上才能得到反射回波最大值D、人为地将缺陷信号的最高回波规定为测定基准
考题
判断题对于超声波检测法中的测长法,在仪器灵敏度一定的条件下,探头沿缺陷长度方向平行移动,当缺陷高度降到规定位置时,探头移动的距离,即为缺陷的指示长度,上述方法被称为相对灵敏度测长法。A
对B
错
考题
单选题在确定缺陷当量时,通常在获得缺陷的最高回波时加以测定,这是因为:()A
只有当声束投射到整个缺陷发射面上才能得到反射回波最大值B
只有当声束沿中心轴线投射到缺陷中心才能得到反射回波最大值C
只有当声束垂直投射到工件内缺陷的反射面上才能得到反射回波最大值D
人为地将缺陷信号的最高回波规定为测定基准
考题
单选题使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时,所测的结果:()A
小于实际尺寸B
接近声束宽度C
稍大于实际尺寸D
等于晶片尺寸
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