考题
()应用延伸度法对缺陷进行定量。A.大于声束截面的缺陷B.小于声束截面的缺陷C.点状缺陷D.平面型缺陷
考题
当量法适用于()。A.大于声束截面的缺陷B.小于声束截面的缺陷C.水平裂纹和斜裂纹D.纵向裂纹
考题
当量法制只适用于测量线度远小于声束截面的缺陷()
此题为判断题(对，错)。
考题
在锻件检测中，对于尺寸大于声束截面的缺陷一般采用半波高度法测定缺陷的指示长度或面积。
考题
锻件探伤时，如果用试块比较法对缺陷定量，对于表面粗糙的缺陷，缺陷实际尺寸会（）A、大于当量尺寸B、等于当量尺寸C、小于当量尺寸D、以上都可能
考题
超声波检测锻件时， 当缺陷尺寸小于声束截面时，一般可采用（）。A、 6dB法B、 绝对灵敏度法C、 当量法D、 以上都对
考题
缺陷的实际尺寸一般（）采用当量法确定的缺陷尺寸A、大于B、等于C、小于
考题
锻件检测，如果用试块比较法对缺陷定量，对于表面粗糙的缺陷，缺陷实际尺寸会（）A、 大于当量尺寸B、 等于当量尺寸C、 小于当量尺寸D、 以上都可能
考题
在锻件检测中，对于尺寸大于声束截面的缺陷一般采用当量法定量。
考题
使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时，所测的结果：（）A、小于实际尺寸B、接近声束宽度C、稍大于实际尺寸D、等于晶片尺寸
考题
斜探头探测两个表面光滑平整、相互平行，但与入射声束取向不良的缺陷。其当量为（）。A、面积大于声束截面的当量一定大B、面积小于声束截面的当量反而大C、当量忽大忽小D、以上都可能
考题
对于小于声束截面的缺陷可用（）评定其大小。A、当量法B、缺陷回波高度法C、底面回波高度法D、延伸度定量评定法
考题
半波高度法用来测量小于声束截面的缺陷的尺寸。
考题
采用当量法确定的缺陷尺寸一般大于缺陷的实际尺寸。
考题
斜探头探测两个表面光滑平整、相互平行，但与入射声束取向不良的缺陷。其当量为面积小于声束截面的当量反而（）。
考题
（）应用延伸度法对缺陷进行定量.A、大于声束截面的缺陷B、小于声束截面的缺陷C、点状缺陷D、平面型缺陷
考题
锻件探伤时，如果用试块比较法对缺陷定量，对于表面粗糙的缺陷，其实际尺寸会（）A、大于当量尺寸B、等于当量尺寸C、小于当量尺寸D、以上都可能
考题
当量法适用于（）A、大于声束截面的缺陷B、小于声束截面的缺陷C、水平裂纹和斜裂纹D、纵向裂纹
考题
当量法制只适用于测量线度远小于声束截面的缺陷。
考题
单选题锻件检测，如果用试块比较法对缺陷定量，对于表面粗糙的缺陷，缺陷实际尺寸会（）A
大于当量尺寸B
等于当量尺寸C
小于当量尺寸D
以上都可能
考题
判断题当量法制只适用于测量线度远小于声束截面的缺陷。A
对B
错
考题
判断题在锻件检测中，对于尺寸大于声束截面的缺陷一般采用当量法定量。A
对B
错
考题
单选题（）应用延伸度法对缺陷进行定量.A
大于声束截面的缺陷B
小于声束截面的缺陷C
点状缺陷D
平面型缺陷
考题
单选题当量法适用于（）A
大于声束截面的缺陷B
小于声束截面的缺陷C
水平裂纹和斜裂纹D
纵向裂纹
考题
判断题当量法用来测量大于声束截面的缺陷的尺寸。A
对B
错
考题
单选题锻件探伤时，如果用试块比较法对缺陷定量，对于表面粗糙的缺陷，缺陷实际尺寸会（）A
大于当量尺寸B
等于当量尺寸C
小于当量尺寸D
以上都可能
考题
判断题半波高度法用来测量小于声束截面的缺陷的尺寸。A
对B
错
