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单选题
在探测不与声束垂直且表面平整的平面状小缺陷时,随着缺陷面积的增大,则反射波幅()。
A

增高

B

降低

C

不变

D

相等


参考答案

参考解析
解析: 暂无解析
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考题 用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷(二缺陷的取向相同且无工件界面的影响),它们的当量()。A、面积大的,当量也一定大B、面积大的,当量不一定比面积小的大C、面积大的,当量反而比面积小的小D、它们的当量相等

考题 在探测不与声束垂直且表面平整的平面状小缺陷时,随着缺陷面积的增大,反射波幅也随之增高。() 此题为判断题(对,错)。

考题 在超声探伤时,如果声束指向不与平面缺陷垂直,则缺陷尺寸一定时,缺陷表面越平滑反射回波越:()A、大B、小C、无影响D、不一定

考题 方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大,该缺陷的取向可能是()A、平行且靠近探测面B、与声束方向平行C、与探测面成较大角度D、平行且靠近底面

考题 锻件探伤中,若缺陷垂直于探测面且缺陷面有曲折或较粗糙时,若采用高灵敏度探伤,其反射波特征是()A、反射波峰尖锐B、反射波稳定但较波幅低C、反射波幅低,宽度较大

考题 用单探头法探测二个表面平整,但与入射声束取向不良的缺陷(二缺陷的取向相同切不工件界面的影响),它们的当量()A、面积大的,当量也一定大B、面积大的,当量不一定比面积小的为大C、面积大的,当量反而要比面积小的要小D、它们的当量相等

考题 锻件探伤中,若缺陷垂直于探测面,且缺陷稍有曲折或较粗糙时,若采用高灵敏度探伤,其反射波特征是()A、反射波峰尖锐B、反射波稳定但较波幅低C、反射波幅低,回波包络宽度较大

考题 与声束不垂直的光滑平面状缺陷反射波的显示不是()。A、回波幅度与底面反射波高度相差不大B、底面反射完全消失C、缺陷反射波高于底面回波D、底波与缺陷波同时存在

考题 斜探头探测两个表面光滑平整、相互平行,但与入射声束取向不良的缺陷。其当量为面积小于声束截面的当量反而()。

考题 在探测不与声束垂直且表面平整的平面状小缺陷时,随着缺陷面积的增大,反射波幅也随之增高。

考题 在探测不与声速垂直且表面平整的平面状小缺陷时,随着缺陷面积的增大,反射波幅也随着增高。

考题 用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷(二缺陷的取向相同且无工件界面的影响),它们的当量()。A、面积大的,当量也一定大B、面积大的,当量不一定比面积小的大C、面积大的,当量反而比面积小的小D、相等

考题 当声束指向不与平面缺陷垂直时,在一定范围内,缺陷尺寸越大,其反射回波强度越()。A、大B、小C、无影响D、不一定

考题 声探伤时,如果声束指向不与平面缺陷垂直,则缺陷尺寸一定时,缺陷表面越平滑反射回波越()A、大B、小C、无影响D、不一定

考题 在直接接触法垂直探伤时,底面回波消失的原因的()A、耦合不良B、缺陷面积大于声束截面C、存在与声束垂直的平面型缺陷D、以上都不是

考题 在探测不与声束垂直且表面平整的平面状小缺陷时,随着缺陷面积的增大,则反射波幅()。A、增高B、降低C、不变D、相等

考题 方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一游动缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大,该缺陷取向可能是()。A、平行且靠近探测面B、与声束方向平行C、与探测面成较大角度D、平行且靠近底面

考题 在A型探伤中,F波幅度较高,与T波的距离较接近,下列哪些说法不正确()。A、缺陷横截面积较大,且较接近探测表面B、缺陷横截面积较大,且较接近底面C、缺陷横截面积较小,但较接近探测表面D、缺陷横截面积较小,但较接近底面

考题 判断题在探测不与声速垂直且表面平整的平面状小缺陷时,随着缺陷面积的增大,反射波幅也随着增高。A 对B 错

考题 判断题在探测不与声束垂直且表面平整的平面状小缺陷时,随着缺陷面积的增大,反射波幅也随之增高。A 对B 错

考题 单选题声探伤时,如果声束指向不与平面缺陷垂直,则缺陷尺寸一定时,缺陷表面越平滑反射回波越()A 大B 小C 无影响D 不一定

考题 单选题方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一游动缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大,该缺陷取向可能是()。A 平行且靠近探测面B 与声束方向平行C 与探测面成较大角度D 平行且靠近底面

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