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方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一游动缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大,该缺陷取向可能是()。

  • A、平行且靠近探测面
  • B、与声束方向平行
  • C、与探测面成较大角度
  • D、平行且靠近底面

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考题 锻件探伤时,那些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波?()A、边缘效应B、工件形状及外形轮廓C、迟到波D、以上全部

考题 锻件探伤中,若缺陷垂直于探测面,且缺陷稍有曲折或较粗糙时,若采用高灵敏度探伤,其反射波特征是()A、反射波峰尖锐B、反射波稳定但较波幅低C、反射波幅低,回波包络宽度较大

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考题 单选题锻件探伤时,那些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波?()A 边缘效应B 工件形状及外形轮廓C 迟到波D 以上全部

考题 单选题锻件探伤中,若缺陷垂直于探测面且缺陷面有曲折或较粗糙时,若采用高灵敏度探伤,其反射波特征是()A 反射波峰尖锐B 反射波稳定但较波幅低C 反射波幅低,宽度较大

考题 单选题A型超声波探伤仪,荧光屏上的垂直显示表示()。A 回波大小B 缺陷位置C 材料厚度D 传播时间

考题 单选题方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一游动缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大。该缺陷取向可能是()。A 平行且靠近探测面B 与声速方向平行C 与探测面成较大角度D 平行且靠近底面

考题 单选题锻件探伤中,若缺陷垂直于探测面,且缺陷稍有曲折或较粗糙时,若采用高灵敏度探伤,其反射波特征是()A 反射波峰尖锐B 反射波稳定但较波幅低C 反射波幅低,回波包络宽度较大

考题 单选题方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一游动缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大,该缺陷取向可能是()。A 平行且靠近探测面B 与声束方向平行C 与探测面成较大角度D 平行且靠近底面

考题 单选题方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大,该缺陷的取向可能是()A 平行且靠近探测面B 与声束方向平行C 与探测面成较大角度D 平行且靠近底面

考题 单选题锻件探伤时,哪些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波()A 边缘效应B 工件形状及外形轮廓C 缺陷形状和取向D 以上全部

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