考题
锻件超声波探伤中,荧光屏上出现“淋状波”时,是由于()。
A、工件中有大面积倾斜缺陷B、工件材料晶粒粗大C、工件中有密集缺陷D、以上全部
考题
锻件探伤中，荧光屏上出现”林状(丛状)波“时，是由于()A.工件中有小而密集缺陷
B.工件材料中有局部晶粒粗大区域
C.工件中有疏松缺陷
D.以上都有可能
考题
锻件探伤时，那些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波？()A.边缘效应
B.工件形状及外形轮廓
C.迟到波
D.以上全部
考题
锻件接触法探伤时，如果探伤仪的”重复频率“调得过高，可能发生()A.荧光屏”噪声“信号过高
B.时基线倾斜
C.始脉冲消失
D.容易出现“幻象波”
考题
在锻件探伤中出现草状回波的原因是由于探头灵敏度过高。
考题
锻件探伤中，荧光屏上出现“淋状波”是由于工件材料晶粒（）。
考题
锻件探伤中，利用锻件底波调节探伤灵敏度有什么好处？对锻件有何要求？
考题
在锻件探伤中出现草状回波的原因是由于晶粒粗大和树枝状结晶。
考题
锻件探伤时，那些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波？（）A、边缘效应B、工件形状及外形轮廓C、迟到波D、以上全部
考题
锻件探伤中，荧光屏上出现“林状（丛状）波”时，是由于（）A、工件中有小而密集缺陷B、工件材料中有局部晶粒粗大区域C、工件中有疏松缺陷D、以上都有可能
考题
锻件探伤中，荧光屏上出现“林状波”时，是由于（）A、工件中有大面积倾斜缺陷B、工件材料晶粒粗大C、工件中有密集缺陷D、以上全部
考题
锻件接触法探伤时，如果探伤仪的“重复频率”调得过高，可能发生（）A、荧光屏"噪声"信号过高B、时基线倾斜C、始脉冲消失D、容易出现"幻象波"
考题
锻件接触法探伤中，如果探伤仪的“重复频率”调得过高，可能发生（）。A、 荧光屏“噪声”信号过高B、 时基线倾斜C、 始脉冲消失D、 容易出现“幻像波”
考题
锻件探伤时，（）会在荧光屏上产生非缺陷回波。A、边缘效应B、工件形状及外形轮廓C、迟到波D、以上全部
考题
锻件探伤中，荧光屏上出现“淋状波”是由于工件材料晶粒粗大。
考题
锻件探伤中，荧光屏上出现“（）”是由于工件材料晶粒粗大。
考题
锻件探伤中，如缺陷引起底波明显（）时，说明锻件中存在较严重的缺陷。
考题
探伤过程中如果发现没有轮毂波（轮心波）出现，且始波后面有林状波及杂波出现（或提高灵敏度后有林状波及杂波出现），影响正常探伤时，则判定镶入部局部透声不良。
考题
客车探伤过程中如果发现没有轮毂波（轮心波）出现，且始波后面有林状波及杂波出现（或提高灵敏度后有林状波及杂波出现），影响正常探伤时，则判定（）。A、透声不良B、镶入部局部透声不良C、镶入部局部透声良好D、镶入部接触不良
考题
锻件接触法探伤时，如果探伤仪“重复频率”调的过高可能发生（）。A、荧光屏“噪声”信号过高B、时基线倾斜C、始脉冲消失D、容易出现“幻像波”
考题
方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷取向可能是（）。A、平行且靠近探测面B、与声束方向平行C、与探测面成较大角度D、平行且靠近底面
考题
单选题锻件探伤时，那些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波？（）A
边缘效应B
工件形状及外形轮廓C
迟到波D
以上全部
考题
单选题方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大。该缺陷取向可能是（）。A
平行且靠近探测面B
与声速方向平行C
与探测面成较大角度D
平行且靠近底面
考题
判断题探伤过程中如果发现没有轮毂波（轮心波）出现，且始波后面有林状波及杂波出现（或提高灵敏度后有林状波及杂波出现），影响正常探伤时，则判定镶入部局部透声不良。A
对B
错
考题
单选题锻件接触法探伤时，如果探伤仪“重复频率”调的过高可能发生（）。A
荧光屏“噪声”信号过高B
时基线倾斜C
始脉冲消失D
容易出现“幻像波”
考题
单选题锻件接触法探伤中，如果探伤仪的“重复频率”调得过高，可能发生（）。A
荧光屏“噪声”信号过高B
时基线倾斜C
始脉冲消失D
容易出现“幻像波”
考题
判断题在锻件探伤中出现草状回波的原因是由于晶粒粗大和树枝状结晶。A
对B
错
