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在探测不与声速垂直且表面平整的平面状小缺陷时，随着缺陷面积的增大，反射波幅也随着增高。
参考答案
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考题
用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷(二缺陷的取向相同且无工件界面的影响)，它们的当量()。A、面积大的，当量也一定大B、面积大的，当量不一定比面积小的大C、面积大的，当量反而比面积小的小D、它们的当量相等
考题
下列尺寸和深度都相同的缺陷,在相同探伤灵敏度下探测,回波最高的是()
A、最大表面与波束轴线呈75°角且平滑的缺陷B、最大表面与波束轴线呈75°角且粗糙的缺陷C、最大表面与波束轴线呈90°角且平滑的缺陷D、最大表面与波束轴线相垂直且粗糙的缺陷
考题
尺寸和深度都相同的缺陷，在相同探伤灵敏度下探测，回波最高的是最大表面与波束轴线（ ）。A.呈75°角且平滑的缺陷B.呈75°角且粗糙的缺陷C.呈90°角且平滑的缺陷D.相垂直且粗糙的缺陷
考题
用单探头法探测二个表面平整，但与入射声束取向不良的缺陷（二缺陷的取向相同切不工件界面的影响），它们的当量（）A、面积大的，当量也一定大B、面积大的，当量不一定比面积小的为大C、面积大的，当量反而要比面积小的要小D、它们的当量相等
考题
尺寸和深度都相同的缺陷，在相同探伤灵敏度下探测，回波最高的是最大表面与波束轴线（）。A、呈75°角且平滑的缺陷B、呈75°角且粗糙的缺陷C、呈90°角且平滑的缺陷D、相垂直且粗糙的缺陷
考题
方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大。该缺陷取向可能是（）。A、 平行且靠近探测面B、 与声速方向平行C、 与探测面成较大角度D、 平行且靠近底面
考题
用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷（二缺陷的取向相同且无工件界面的影响），它们的当量（）。A、面积大的，当量也一定大B、面积大的，当量不一定比面积小的大C、面积大的，当量反而比面积小的小D、相等
考题
在A型探伤中，F波幅度较高，与T波的距离较接近，下列哪些说法不正确（）。A、缺陷横截面积较大，且较接近探测表面B、缺陷横截面积较大，且较接近底面C、缺陷横截面积较小，但较接近探测表面D、缺陷横截面积较小，但较接近底面
考题
单选题用单探头法探测二个表面平整，但与入射声束取向不良的缺陷（二缺陷的取向相同切不工件界面的影响），它们的当量（）A
面积大的，当量也一定大B
面积大的，当量不一定比面积小的为大C
面积大的，当量反而要比面积小的要小D
它们的当量相等
考题
单选题在A型探伤中，F波幅度较高，与T波的距离较接近，说明（）。A
缺陷横截面积较大，且较接近探测表面B
缺陷横截面积较大，且较接近底面C
缺陷横截面积较小，但较接近探测表面D
缺陷横截面积较小，但较接近底面
考题
单选题当声束指向不与平面缺陷垂直时，在一定范围内，缺陷尺寸越大，其反射回波强度越（）A
大B
小C
无影响D
不一定
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