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在探测不与声束垂直且表面平整的平面状小缺陷时,随着缺陷面积的增大,则反射波幅()。

  • A、增高
  • B、降低
  • C、不变
  • D、相等

参考答案

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考题 ()应用延伸度法对缺陷进行定量。A.大于声束截面的缺陷B.小于声束截面的缺陷C.点状缺陷D.平面型缺陷

考题 用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷(二缺陷的取向相同且无工件界面的影响),它们的当量()。A、面积大的,当量也一定大B、面积大的,当量不一定比面积小的大C、面积大的,当量反而比面积小的小D、它们的当量相等

考题 在探测不与声束垂直且表面平整的平面状小缺陷时,随着缺陷面积的增大,反射波幅也随之增高。() 此题为判断题(对,错)。

考题 在超声探伤时,如果声束指向不与平面缺陷垂直,则缺陷尺寸一定时,缺陷表面越平滑反射回波越:()A、大B、小C、无影响D、不一定

考题 用单探头法探测二个表面平整,但与入射声束取向不良的缺陷(二缺陷的取向相同切不工件界面的影响),它们的当量()A、面积大的,当量也一定大B、面积大的,当量不一定比面积小的为大C、面积大的,当量反而要比面积小的要小D、它们的当量相等

考题 在直接接触法直探头探伤时,底波消失的原因可能有()A、耦合不良B、存在与声束不垂直的平面缺陷C、存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D、工件材料衰减过大

考题 斜探头探测两个表面光滑平整、相互平行,但与入射声束取向不良的缺陷。其当量为()。A、面积大于声束截面的当量一定大B、面积小于声束截面的当量反而大C、当量忽大忽小D、以上都可能

考题 斜探头探测两个表面光滑平整、相互平行,但与入射声束取向不良的缺陷。其当量为面积小于声束截面的当量反而()。

考题 在探测不与声束垂直且表面平整的平面状小缺陷时,随着缺陷面积的增大,反射波幅也随之增高。

考题 在探测不与声速垂直且表面平整的平面状小缺陷时,随着缺陷面积的增大,反射波幅也随着增高。

考题 用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷(二缺陷的取向相同且无工件界面的影响),它们的当量()。A、面积大的,当量也一定大B、面积大的,当量不一定比面积小的大C、面积大的,当量反而比面积小的小D、相等

考题 ()应用延伸度法对缺陷进行定量.A、大于声束截面的缺陷B、小于声束截面的缺陷C、点状缺陷D、平面型缺陷

考题 在直接接触法直探头探伤时,底波消失的原因是()。A、耦合不良B、存在与声束不垂直的平面缺陷C、耦合太好D、存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷

考题 当声束指向不与平面缺陷垂直时,在一定范围内,缺陷尺寸越大,其反射回波强度越()。A、大B、小C、无影响D、不一定

考题 声探伤时,如果声束指向不与平面缺陷垂直,则缺陷尺寸一定时,缺陷表面越平滑反射回波越()A、大B、小C、无影响D、不一定

考题 在直接接触法垂直探伤时,底面回波消失的原因的()A、耦合不良B、缺陷面积大于声束截面C、存在与声束垂直的平面型缺陷D、以上都不是

考题 方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一游动缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大,该缺陷取向可能是()。A、平行且靠近探测面B、与声束方向平行C、与探测面成较大角度D、平行且靠近底面

考题 在A型探伤中,F波幅度较高,与T波的距离较接近,下列哪些说法不正确()。A、缺陷横截面积较大,且较接近探测表面B、缺陷横截面积较大,且较接近底面C、缺陷横截面积较小,但较接近探测表面D、缺陷横截面积较小,但较接近底面

考题 单选题用单探头法探测二个表面平整,但与入射声束取向不良的缺陷(二缺陷的取向相同切不工件界面的影响),它们的当量()A 面积大的,当量也一定大B 面积大的,当量不一定比面积小的为大C 面积大的,当量反而要比面积小的要小D 它们的当量相等

考题 判断题在探测不与声速垂直且表面平整的平面状小缺陷时,随着缺陷面积的增大,反射波幅也随着增高。A 对B 错

考题 单选题()应用延伸度法对缺陷进行定量.A 大于声束截面的缺陷B 小于声束截面的缺陷C 点状缺陷D 平面型缺陷

考题 单选题在探测不与声束垂直且表面平整的平面状小缺陷时,随着缺陷面积的增大,则反射波幅()。A 增高B 降低C 不变D 相等

考题 判断题在探测不与声束垂直且表面平整的平面状小缺陷时,随着缺陷面积的增大,反射波幅也随之增高。A 对B 错

考题 单选题声探伤时,如果声束指向不与平面缺陷垂直,则缺陷尺寸一定时,缺陷表面越平滑反射回波越()A 大B 小C 无影响D 不一定

考题 单选题在直接接触法垂直探伤时,底面回波消失的原因的()A 耦合不良B 缺陷面积大于声束截面C 存在与声束垂直的平面型缺陷D 以上都不是

考题 单选题当声束指向不与平面缺陷垂直时,在一定范围内,缺陷尺寸越大,其反射回波强度越()A 大B 小C 无影响D 不一定

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