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在探测不与声束垂直且表面平整的平面状小缺陷时,随着缺陷面积的增大,反射波幅也随之增高。()
此题为判断题(对，错)。
参考答案
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考题
用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷(二缺陷的取向相同且无工件界面的影响)，它们的当量()。A、面积大的，当量也一定大B、面积大的，当量不一定比面积小的大C、面积大的，当量反而比面积小的小D、它们的当量相等
考题
下列尺寸和深度都相同的缺陷,在相同探伤灵敏度下探测,回波最高的是()
A、最大表面与波束轴线呈75°角且平滑的缺陷B、最大表面与波束轴线呈75°角且粗糙的缺陷C、最大表面与波束轴线呈90°角且平滑的缺陷D、最大表面与波束轴线相垂直且粗糙的缺陷
考题
尺寸和深度都相同的缺陷，在相同探伤灵敏度下探测，回波最高的是最大表面与波束轴线（ ）。A.呈75°角且平滑的缺陷B.呈75°角且粗糙的缺陷C.呈90°角且平滑的缺陷D.相垂直且粗糙的缺陷
考题
方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷的取向可能是()A.平行且靠近探测面
B.与声束方向平行
C.与探测面成较大角度
D.平行且靠近底面
考题
【单选题】在A型探伤中，F波幅度较高，与T波的距离较接近，说明（）。A．缺陷横截面积较大，且较接近底面B．缺陷横截面积较小，但较接近探测表面C．缺陷横截面积较小，但较接近底面D．缺陷横截面积较大，但较接近探测表面
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