考题
THDS-A（哈科所）探测站造成探头输出幅值低的原因有（）。A、探头故障B、探头电缆接触不良C、板温读取错误D、热靶温度读取错误E、环温读取错误
考题
THDS-A（哈科所）探测站探头箱中的温度转换盒可完成（）的温度信号转换。A、热靶B、探头C、轴箱D、板温E、环温
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头的静态噪声是恒定不变的。
考题
THDS-A（哈科所）系统，双侧元件温度接近环温时，可能是探头温控板造成的。
考题
THDS-A（哈科所）探测站的轴温传感器包括（）。A、热敏探头和交流探头B、热敏探头和光子探头C、直流探头和交流探头D、光子探头和交流探头
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头的静态噪声超过150毫伏时应更换探头。
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头元件工作温度应该为0度以下。
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头元件温度异常可能与光子探头有关。
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差。
考题
THDS-A（哈科所）系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。
考题
THDS-A（哈科所）探测站的光子探头校曲线方式有（）。A、半自动B、自动C、手动D、固定曲线E、线性折算
考题
THDS-A（哈科所）系统，探头插头松动会造成元件温度异常，无法正常采集信号。
考题
THDS-A（哈科所）探测站中使用PT1000温度传感器做为测温元件的有（）。A、板温B、环温C、靶温D、光子元温E、制冷温度
考题
多选题THDS-A（哈科所）探测站中使用PT1000温度传感器做为测温元件的有（）。A板温B环温C靶温D光子元温E制冷温度
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。A
对B
错
考题
多选题THDS-A（哈科所）探测站的光子探头校曲线方式有（）。A半自动B自动C手动D固定曲线E线性折算
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，双侧元件温度接近环温时，可能是探头温控板造成的。A
对B
错
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，光子探头元件工作温度应该为0度以下。A
对B
错
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，光子探头元件温度异常可能与光子探头有关。A
对B
错
考题
单选题THDS-A（哈科所）探测站的轴温传感器包括（）。A
热敏探头和交流探头B
热敏探头和光子探头C
直流探头和交流探头D
光子探头和交流探头
考题
单选题THDS-A（哈科所）探测站用示波器测量探头噪声时，光子探头噪声≥（）时需更换。A
100mVB
95mVC
90mVD
80mV
考题
判断题THDS-A（哈科所）探测站的轴温传感器有热敏探头和光子探头两种。A
对B
错
考题
多选题THDS-A（哈科所）探测站造成探头输出幅值低的原因有（）。A探头故障B探头电缆接触不良C板温读取错误D热靶温度读取错误E环温读取错误
考题
单选题THDS-A（哈科所）探测站标准配置下探头位置是（）。A
内光子、外热敏B
内热敏、外光子C
双热敏D
双光子
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，探头插头松动会造成元件温度异常，无法正常采集信号。A
对B
错
考题
单选题THDS-A（哈科所）探测站，光子探头元件温度异常会造成（）。A
测温误差大B
测温良好C
测温稳定D
测温不变
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差。A
对B
错
