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THDS-A(哈科所)系统,双侧元件温度接近环温时,可能是探头温控板造成的。


参考答案

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考题 THDS-A(哈科所)探测站造成探头输出幅值低的原因有()。A、探头故障B、探头电缆接触不良C、板温读取错误D、热靶温度读取错误E、环温读取错误

考题 THDS-A(哈科所)探测站探头箱中的温度转换盒可完成()的温度信号转换。A、热靶B、探头C、轴箱D、板温E、环温

考题 THDS-A(哈科所)系统,如果报元件温度故障,可能是热靶故障。

考题 THDS-A(哈科所)探测站,红外轴温探测系统外探探头在晴朗天空下,天空值出现高值,有可能是()所致。A、阳光干扰B、轴温高C、轴温低D、探头异常

考题 THDS-A(哈科所)探测站造成探头噪声大的原因有()。A、探头故障B、探头电源波动C、探头电缆接触不良D、板温读取错误E、环温读取错误

考题 THDS-A(哈科所)系统,光子探头元件工作温度应该为0度以下。

考题 THDS-A(哈科所)系统,光子探头元件温度异常可能与光子探头有关。

考题 THDS-A(哈科所)探测站,光子探头板温异常产生的后果()。A、探头出现问题B、无法正确测曲线C、环温出现异常D、影响轴温测温精度E、不影响轴温测温精度

考题 THDS-A(哈科所)系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。

考题 THDS-A(哈科所)系统,探头插头松动会造成元件温度异常,无法正常采集信号。

考题 在THDS-A设备(哈科所)探测站中,元温可代表()。A、环温B、热靶温度C、探头内部温度D、以上都不对

考题 THDS-A(哈科所)系统,板温传感器电缆断路,造成环温显示-50度,可能与板温转换盒有关。

考题 THDS-A(哈科所)系统,某一侧探头光孔有异物遮挡时,容易造成该侧车辆轴承平均温升变大。

考题 THDS-A(哈科所)探测站中使用PT1000温度传感器做为测温元件的有()。A、板温B、环温C、靶温D、光子元温E、制冷温度

考题 THDS-A(哈科所)系统如果报热敏探头板温故障,现象是板温与正常值偏离较大,可能是温度转换盒故障。

考题 多选题THDS-A(哈科所)探测站中使用PT1000温度传感器做为测温元件的有()。A板温B环温C靶温D光子元温E制冷温度

考题 判断题(哈科)THDS-C系统,双侧元件温度接近环温时,可能是探头温控板造成的。A 对B 错

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统,双侧元件温度接近环温时,可能是探头温控板造成的。A 对B 错

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统,光子探头元件工作温度应该为0度以下。A 对B 错

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统,光子探头元件温度异常可能与光子探头有关。A 对B 错

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统如果报热敏探头板温故障,现象是板温与正常值偏离较大,可能是温度转换盒故障。A 对B 错

考题 单选题THDS-A(哈科所)探测站,红外轴温探测系统外探探头在晴朗天空下,天空值出现高值,有可能是()所致。A 阳光干扰B 轴温高C 轴温低D 探头异常

考题 单选题在THDS-A设备(哈科所)探测站中,元温可代表()。A 环温B 热靶温度C 探头内部温度D 以上都不对

考题 多选题THDS-A(哈科所)探测站造成探头噪声大的原因有()。A探头故障B探头电源波动C探头电缆接触不良D板温读取错误E环温读取错误

考题 多选题THDS-A(哈科所)探测站造成探头输出幅值低的原因有()。A探头故障B探头电缆接触不良C板温读取错误D热靶温度读取错误E环温读取错误

考题 多选题THDS-A(哈科所)探测站探头箱中的温度转换盒可完成()的温度信号转换。A热靶B探头C轴箱D板温E环温

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统,某一侧探头光孔有异物遮挡时,容易造成该侧车辆轴承平均温升变大。A 对B 错