考题
THDS-A（哈科所）系统，热靶曲线纵向升不上去，说明探头响应率上升。
考题
THDS-A（哈科所）探测站造成探头输出幅值低的原因有（）。A、探头故障B、探头电缆接触不良C、板温读取错误D、热靶温度读取错误E、环温读取错误
考题
THDS-A（哈科所）探测站，光子探头元件温度异常会造成（）。A、测温误差大B、测温良好C、测温稳定D、测温不变
考题
THDS-A（哈科所）系统，如果报元件温度故障，可能是热靶故障。
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头的静态噪声是恒定不变的。
考题
THDS-A（哈科所）系统，双侧元件温度接近环温时，可能是探头温控板造成的。
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头的静态噪声超过150毫伏时应更换探头。
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头元件工作温度应该为0度以下。
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头元件温度异常可能与光子探头有关。
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差。
考题
THDS-A（哈科所）系统，双侧热靶曲线为一个点，可能造成双侧探头测温异常。
考题
THDS-A（哈科所）探测站，光子探头板温异常产生的后果（）。A、探头出现问题B、无法正确测曲线C、环温出现异常D、影响轴温测温精度E、不影响轴温测温精度
考题
THDS-A（哈科所）系统，元件温度与正常值偏离较大，则用万用表测量探头温控板输出，如果换算出的温度与正常值相差很大，则更换AD采集板。
考题
THDS-A（哈科所）系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。
考题
THDS-A（哈科所）系统，某一侧探头光孔有异物遮挡时，容易造成该侧车辆轴承平均温升变大。
考题
THDS-A（哈科所）系统，光子探头的制冷电流最大值为0.95A，制冷电流过高或过低会影响器件制冷温度的深度。
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，元件温度与正常值偏离较大，则用万用表测量探头温控板输出，如果换算出的温度与正常值相差很大，则更换AD采集板。A
对B
错
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，光子探头的制冷电流最大值为0.95A，制冷电流过高或过低会影响器件制冷温度的深度。A
对B
错
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。A
对B
错
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，双侧元件温度接近环温时，可能是探头温控板造成的。A
对B
错
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，光子探头元件工作温度应该为0度以下。A
对B
错
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，光子探头元件温度异常可能与光子探头有关。A
对B
错
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，左侧热靶曲线为一条水平直线，可能造成左侧探头测温异常。A
对B
错
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，如果报元件温度故障，可能是热靶故障。A
对B
错
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，探头插头松动会造成元件温度异常，无法正常采集信号。A
对B
错
考题
单选题THDS-A（哈科所）探测站，光子探头元件温度异常会造成（）。A
测温误差大B
测温良好C
测温稳定D
测温不变
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统，光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差。A
对B
错
