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THDS-A(哈科所)系统,光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差。


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考题 (哈科)THDS-C系统,光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差。

考题 THDS-A(哈科所)探测站,光子探头元件温度异常会造成()。A、测温误差大B、测温良好C、测温稳定D、测温不变

考题 THDS-A(哈科所)系统,光子探头的静态噪声是恒定不变的。

考题 (哈科)THDS-C系统,光子探头的制冷电流最大值为0.95A,制冷电流过高或过低会影响器件制冷温度的深度。

考题 THDS-A(哈科所)探测站的轴温传感器包括()。A、热敏探头和交流探头B、热敏探头和光子探头C、直流探头和交流探头D、光子探头和交流探头

考题 THDS-A(哈科所)系统,光子探头的静态噪声超过150毫伏时应更换探头。

考题 THDS-A(哈科所)系统,光子探头元件工作温度应该为0度以下。

考题 THDS-A(哈科所)探测站,红外轴温探测系统制冷电流不稳定容易造成探头测温()。A、一致性好B、精确性高C、误差大D、可靠

考题 THDS-A(哈科所)系统,光子探头元件温度异常可能与光子探头有关。

考题 THDS-A(哈科所)系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。

考题 THDS-A(哈科所)系统,探头插头松动会造成元件温度异常,无法正常采集信号。

考题 THDS-A(哈科所)系统,光子探头如遇探头镜面太脏致使测温过低时,可以擦拭后直接接车。

考题 THDS-A(哈科所)系统,某一侧探头光孔有异物遮挡时,容易造成该侧车辆轴承平均温升变大。

考题 (哈科)THDS-B系统光子探头制冷电压是7V。

考题 THDS-A(哈科所)系统,光子探头的制冷电流最大值为0.95A,制冷电流过高或过低会影响器件制冷温度的深度。

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统,光子探头的制冷电流最大值为0.95A,制冷电流过高或过低会影响器件制冷温度的深度。A 对B 错

考题 判断题(哈科)THDS-C系统,光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差。A 对B 错

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。A 对B 错

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统,光子探头元件工作温度应该为0度以下。A 对B 错

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统,光子探头元件温度异常可能与光子探头有关。A 对B 错

考题 单选题THDS-A(哈科所)探测站的轴温传感器包括()。A 热敏探头和交流探头B 热敏探头和光子探头C 直流探头和交流探头D 光子探头和交流探头

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统,光子探头的静态噪声超过150毫伏时应更换探头。A 对B 错

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统,光子探头的静态噪声是恒定不变的。A 对B 错

考题 判断题THDS-A(哈科所)探测站的轴温传感器有热敏探头和光子探头两种。A 对B 错

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统,光子探头如遇探头镜面太脏致使测温过低时,可以擦拭后直接接车。A 对B 错

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统,光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差。A 对B 错

考题 单选题THDS-A(哈科所)探测站,红外轴温探测系统制冷电流不稳定容易造成探头测温()。A 一致性好B 精确性高C 误差大D 可靠