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判断题
THDS-A(哈科所)系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。
A

B


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考题 (康拓)THDS-A系统光子探头的器件温度是由控制箱内的()控制的。A、测温板B、功放板C、调理板D、温控板

考题 THDS-A(哈科所)系统,如果报元温故障,现象是与正常值偏离较大,可能是探头温控板故障。

考题 THDS-A(哈科所)探测站,光子探头元件温度异常会造成()。A、测温误差大B、测温良好C、测温稳定D、测温不变

考题 THDS-A(哈科所)系统,光子探头的静态噪声是恒定不变的。

考题 THDS-A(哈科所)系统,双侧元件温度接近环温时,可能是探头温控板造成的。

考题 THDS-A(哈科所)系统,光子探头的静态噪声超过150毫伏时应更换探头。

考题 (康拓)THDS-A系统光子探头的器件温度是由控制箱内的温控板控制的。

考题 THDS-A(哈科所)系统,光子探头元件工作温度应该为0度以下。

考题 THDS-A(哈科所)系统,光子探头元件温度异常可能与光子探头有关。

考题 (哈科)THDS-C系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。

考题 THDS-A(哈科所)系统,元件温度与正常值偏离较大,则用万用表测量探头温控板输出,如果换算出的温度与正常值相差很大,则更换AD采集板。

考题 THDS-A(哈科所)系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。

考题 THDS-A(哈科所)系统,探头插头松动会造成元件温度异常,无法正常采集信号。

考题 THDS-A(哈科所)设备热靶曲线有纵向跳变,则说明可能是探头温控板故障。

考题 (康拓)THDS-A系统温控板的作用是()。A、控制光子探头的光子器件温度,输出控制器件温度的电流B、控制热敏探头的光子器件温度,输出控制器件温度的电流C、控制热敏探头的挡板温度,输出控制器件温度的电流D、控制热靶温度,输出控制器件温度的电流

考题 THDS-A红外轴温探测系统光子探头的器件温度是由控制箱内的()控制的。A、测温板B、温控板C、调理板D、功放板

考题 THDS-C探测站中光子探头的元件温度是由控制箱内的制冷控制板控制的。

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统,元件温度与正常值偏离较大,则用万用表测量探头温控板输出,如果换算出的温度与正常值相差很大,则更换AD采集板。A 对B 错

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统,双侧元件温度接近环温时,可能是探头温控板造成的。A 对B 错

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统,光子探头元件工作温度应该为0度以下。A 对B 错

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统,光子探头元件温度异常可能与光子探头有关。A 对B 错

考题 单选题THDS-A红外轴温探测系统光子探头的器件温度是由控制箱内的()控制的。A 测温板B 温控板C 调理板D 功放板

考题 判断题(哈科)THDS-C系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。A 对B 错

考题 判断题THDS-C探测站中光子探头的元件温度是由控制箱内的制冷控制板控制的。A 对B 错

考题 单选题(康拓)THDS-A系统温控板的作用是()。A 控制光子探头的光子器件温度,输出控制器件温度的电流B 控制热敏探头的光子器件温度,输出控制器件温度的电流C 控制热敏探头的挡板温度,输出控制器件温度的电流D 控制热靶温度,输出控制器件温度的电流

考题 判断题(康拓)THDS-A系统光子探头的器件温度是由控制箱内的温控板控制的。A 对B 错

考题 单选题THDS-A红外轴温探测系统温控板的作用是()A 控制光子探头的光子器件温度,输出控制器件温度的电流B 控制热敏探头的光子器件温度,输出控制器件温度的电流C 控制热敏探头的挡板温度,输出控制器件温度的电流D 控制热靶温度,输出控制器件温度的电流