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判断题
(哈科)THDS-C系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。
A

B


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考题 (康拓)THDS-A系统光子探头的器件温度是由控制箱内的()控制的。A、测温板B、功放板C、调理板D、温控板

考题 (哈科)THDS-C系统,光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差。

考题 (哈科)THDS-C系统光子曲线的完整性决定了光子探头温度采集的准确性,每条曲线长度为32个点。

考题 THDS-A(哈科所)系统,双侧元件温度接近环温时,可能是探头温控板造成的。

考题 (康拓)THDS-A系统光子探头的器件温度是由控制箱内的温控板控制的。

考题 (哈科)THDS-C系统直流光子探头静态输出电压:+1.000±0.010V。

考题 THDS-A(哈科所)系统,光子探头元件工作温度应该为0度以下。

考题 (哈科)THDS-B系统光子探头需要调制控制。

考题 THDS-C探头温控板是控制碲镉汞元件温度的电路板,具有3种调整制冷方式。

考题 THDS-A(哈科所)系统,光子探头元件温度异常可能与光子探头有关。

考题 (哈科)THDS-C系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。

考题 THDS-A(哈科所)系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。

考题 (康拓)THDS-A系统温控板的作用是()。A、控制光子探头的光子器件温度,输出控制器件温度的电流B、控制热敏探头的光子器件温度,输出控制器件温度的电流C、控制热敏探头的挡板温度,输出控制器件温度的电流D、控制热靶温度,输出控制器件温度的电流

考题 THDS-A红外轴温探测系统光子探头的器件温度是由控制箱内的()控制的。A、测温板B、温控板C、调理板D、功放板

考题 (哈科)THDS-C系统制冷控制板的制冷控制路数:2路,每路控制1个光子探头。

考题 THDS-C探测站中光子探头的元件温度是由控制箱内的制冷控制板控制的。

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。A 对B 错

考题 判断题(哈科)THDS-C系统,双侧元件温度接近环温时,可能是探头温控板造成的。A 对B 错

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统,双侧元件温度接近环温时,可能是探头温控板造成的。A 对B 错

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统,光子探头元件温度异常可能与光子探头有关。A 对B 错

考题 判断题THDS-C探头温控板是控制碲镉汞元件温度的电路板,具有3种调整制冷方式。A 对B 错

考题 单选题THDS-A红外轴温探测系统光子探头的器件温度是由控制箱内的()控制的。A 测温板B 温控板C 调理板D 功放板

考题 判断题(哈科)THDS-C系统制冷控制板的制冷控制路数:2路,每路控制1个光子探头。A 对B 错

考题 判断题THDS-C探测站中光子探头的元件温度是由控制箱内的制冷控制板控制的。A 对B 错

考题 单选题(康拓)THDS-A系统温控板的作用是()。A 控制光子探头的光子器件温度,输出控制器件温度的电流B 控制热敏探头的光子器件温度,输出控制器件温度的电流C 控制热敏探头的挡板温度,输出控制器件温度的电流D 控制热靶温度,输出控制器件温度的电流

考题 判断题(康拓)THDS-A系统光子探头的器件温度是由控制箱内的温控板控制的。A 对B 错

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