考题
（康拓）THDS-A系统光子探头的器件温度是由控制箱内的（）控制的。A、测温板B、功放板C、调理板D、温控板
考题
（哈科）THDS-C系统，光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差。
考题
（哈科）THDS-C系统，光子探头的制冷电流最大值为0.95A，制冷电流过高或过低会影响器件制冷温度的深度。
考题
THDS-C探测站的加热控制板加的加热保护温度为（）。A、100℃±5℃B、110℃±5℃C、120℃±5℃D、130℃±5℃
考题
THDS-C探测站控制板的作用是用于（）的驱动。A、探头校零B、保护门电机C、热靶电机D、热靶加热E、制冷电流调整
考题
（康拓）THDS-A系统光子探头的器件温度是由控制箱内的温控板控制的。
考题
THDS-C探头温控板是控制碲镉汞元件温度的电路板，具有3种调整制冷方式。
考题
（哈科）THDS-C系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。
考题
THDS-C探测站的加热控制板加的加热保护温度为+120℃±5℃。
考题
THDS-A（哈科所）系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。
考题
THDS-C探测站，光子探头的红外器件的工作特性是（）。A、真空充氮密封B、采用双浸热敏元件C、三级半导体制冷D、二级半导制冷E、一级半导制冷
考题
THDS-A红外轴温探测系统光子探头的器件温度是由控制箱内的（）控制的。A、测温板B、温控板C、调理板D、功放板
考题
（哈科）THDS-C系统制冷控制板的制冷控制路数：2路，每路控制1个光子探头。
考题
THDS-C探测站中光子探头的元件温度是由控制箱内的制冷控制板控制的。
考题
THDS-C探测站的轴温传感器包括（）。A、热敏探头和交流探头B、光子探头C、直流探头和交流探头D、光子探头和交流探头
考题
判断题THDS-A（哈科所）系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。A
对B
错
考题
多选题THDS-C探测站，光子探头的红外器件的工作特性是（）。A真空充氮密封B采用双浸热敏元件C三级半导体制冷D二级半导制冷E一级半导制冷
考题
判断题THDS-C探头温控板是控制碲镉汞元件温度的电路板，具有3种调整制冷方式。A
对B
错
考题
单选题THDS-A红外轴温探测系统光子探头的器件温度是由控制箱内的（）控制的。A
测温板B
温控板C
调理板D
功放板
考题
判断题（哈科）THDS-C系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。A
对B
错
考题
判断题（哈科）THDS-C系统制冷控制板的制冷控制路数：2路，每路控制1个光子探头。A
对B
错
考题
判断题THDS-C探测站中制冷控制板是控制碲镉汞元件温度的电路板，具有3种调整制冷方式。A
对B
错
考题
判断题THDS-C探测站的加热控制板加的加热保护温度为+120℃±5℃。A
对B
错
考题
单选题THDS-C探测站的加热控制板加的加热保护温度为（）。A
100℃±5℃B
110℃±5℃C
120℃±5℃D
130℃±5℃
考题
单选题THDS-C探测站的轴温传感器包括（）。A
热敏探头和交流探头B
光子探头C
直流探头和交流探头D
光子探头和交流探头
考题
判断题（康拓）THDS-A系统光子探头的器件温度是由控制箱内的温控板控制的。A
对B
错
考题
多选题THDS-C探测站控制板的作用是用于（）的驱动。A探头校零B保护门电机C热靶电机D热靶加热E制冷电流调整
