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单选题
THDS-A(哈科所)探测站用示波器测量探头噪声时,光子探头噪声≥()时需更换。
A

100mV

B

95mV

C

90mV

D

80mV


参考答案

参考解析
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考题 THDS-A(哈科所)探测站,光子探头元件温度异常会造成()。A、测温误差大B、测温良好C、测温稳定D、测温不变

考题 THDS-A(哈科所)系统,光子探头的静态噪声是恒定不变的。

考题 THDS-A(哈科所)探测站的轴温传感器包括()。A、热敏探头和交流探头B、热敏探头和光子探头C、直流探头和交流探头D、光子探头和交流探头

考题 THDS-A(哈科所)系统,光子探头的静态噪声超过150毫伏时应更换探头。

考题 THDS-A(哈科所)探测站造成探头噪声大的原因有()。A、探头故障B、探头电源波动C、探头电缆接触不良D、板温读取错误E、环温读取错误

考题 THDS-A(哈科所)系统,光子探头元件温度异常可能与光子探头有关。

考题 THDS-A(哈科所)系统,光子探头的制冷电流不稳定容易造成探头测温出现误差。

考题 测量THDS-A红外轴温探测系统光子探头动态噪声的方法是()A、进入系统维护状态,上电,开调制,用示波器测量模拟信号调理板光子探头输出端子B、进入系统维护状态,不上电,开调制,用示波器测量模拟信号调理板光C、进入系统维护状态,上电,关调制,用示波器测量模拟信号调理板光子探头输出端子D、进入系统维护状态,不上电,关调制,用示波器测量模拟信号调理板光子探头输出端子

考题 THDS-A(哈科所)系统光子探头的元件温度是由控制箱内的探头温控板控制的。

考题 THDS-A(哈科所)探测站的光子探头校曲线方式有()。A、半自动B、自动C、手动D、固定曲线E、线性折算

考题 THDS-A(哈科所)探测站,红外轴温探测系统如果报元温故障正确的解决办法是()。A、直接更换探头B、更换探头温控板C、左右侧探头互换,故障也互换,则需要更换探头D、以上都不对

考题 THDS-A(哈科所)系统,光子探头如遇探头镜面太脏致使测温过低时,可以擦拭后直接接车。

考题 THDS-A(哈科所)探测站更换光子探头后,以下做法正确的有()。A、删除旧曲线,重新校曲线B、探头重新标定C、重新调整角度D、不重新校曲线,可用另一侧曲线E、不用重新调整角度

考题 THDS-A(哈科所)系统,热敏探头的5分钟漂移电压峰峰超过150毫伏时应更换探头。

考题 THDS-A(哈科所)探测站中光子探头应满足以下()技术要求。A、噪声电压<80mVB、漂移<150mVC、噪声电压<100mVD、漂移<200mVE、噪声电压<150mV

考题 多选题THDS-A(哈科所)探测站的光子探头校曲线方式有()。A半自动B自动C手动D固定曲线E线性折算

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统,光子探头元件温度异常可能与光子探头有关。A 对B 错

考题 多选题THDS-A(哈科所)探测站中光子探头应满足以下()技术要求。A噪声电压<80mVB漂移<150mVC噪声电压<100mVD漂移<200mVE噪声电压<150mV

考题 单选题THDS-A(哈科所)探测站的轴温传感器包括()。A 热敏探头和交流探头B 热敏探头和光子探头C 直流探头和交流探头D 光子探头和交流探头

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统,光子探头的静态噪声超过150毫伏时应更换探头。A 对B 错

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统,光子探头的静态噪声是恒定不变的。A 对B 错

考题 判断题THDS-A(哈科所)探测站的轴温传感器有热敏探头和光子探头两种。A 对B 错

考题 多选题THDS-A(哈科所)探测站造成探头噪声大的原因有()。A探头故障B探头电源波动C探头电缆接触不良D板温读取错误E环温读取错误

考题 单选题THDS-A(哈科所)探测站标准配置下探头位置是()。A 内光子、外热敏B 内热敏、外光子C 双热敏D 双光子

考题 单选题测量THDS-A红外轴温探测系统光子探头动态噪声的方法是()A 进入系统维护状态,上电,开调制,用示波器测量模拟信号调理板光子探头输出端子B 进入系统维护状态,不上电,开调制,用示波器测量模拟信号调理板光C 进入系统维护状态,上电,关调制,用示波器测量模拟信号调理板光子探头输出端子D 进入系统维护状态,不上电,关调制,用示波器测量模拟信号调理板光子探头输出端子

考题 判断题THDS-A(哈科所)系统,光子探头如遇探头镜面太脏致使测温过低时,可以擦拭后直接接车。A 对B 错

考题 单选题THDS-A(哈科所)探测站,光子探头元件温度异常会造成()。A 测温误差大B 测温良好C 测温稳定D 测温不变