考题
THDS-A红外轴温探测系统如果报器件温度故障，现象是无制冷电流，器件温度接近环温，正确的解决办法是左右侧探头互换，故障也互换，则需要更换探头。若故障不移动，检查（）。
考题
THDS-A（哈科所）探测站，红外轴温探测系统外探探头在晴朗天空下，天空值出现高值，有可能是（）所致。A、阳光干扰B、轴温高C、轴温低D、探头异常
考题
THDS-A（哈科所）探测站室外设备由红外轴温扫描器、卡轨器、过轨管组件、（）、环温箱、分线箱。A、控制箱B、车轮传感器C、电源箱D、UPS不间断电源
考题
THDS-A（哈科所）探测站，红外轴温探测系统制冷电流不稳定容易造成探头测温（）。A、一致性好B、精确性高C、误差大D、可靠
考题
THDS-A红外轴温探测系统如果报左侧挡板状态故障，下列（）部件可能出现问题。A、功放板B、模拟信号调理板C、探头D、温控板E、测温板
考题
THDS-A（哈科所）探测站，光子探头板温异常产生的后果（）。A、探头出现问题B、无法正确测曲线C、环温出现异常D、影响轴温测温精度E、不影响轴温测温精度
考题
THDS-A红外轴温探测系统中环温传感器的型号是（）。
考题
THDS-A（哈科所）系统，如果报双侧元温故障，正确的解决办法是检查探头。
考题
在THDS-A设备（哈科所）探测站中，元温可代表（）。A、环温B、热靶温度C、探头内部温度D、以上都不对
考题
THDS-A（哈科所）探测站室外设备包括（）等。A、控制箱B、车轮传感器C、红外轴温扫描器D、卡轨器E、车号天线
考题
THDS-A（哈科所）探测站中使用PT1000温度传感器做为测温元件的有（）。A、板温B、环温C、靶温D、光子元温E、制冷温度
考题
THDS-A（哈科所）系统如果报热敏探头板温故障，现象是板温与正常值偏离较大，可能是温度转换盒故障。
考题
THDS-A（哈科所）探测站，红外轴温探测系统外探探头在晴朗天空下，天空值出现高值有可能造成（）。A、误报热轴B、漏报热轴C、不报热轴D、以上都不对
考题
THDS-A红外轴温探测系统如果报盘温故障，现象是盘温-100℃，可能出现问题的部件有（）A、探头B、测温板C、数字IO卡D、温控板E、功放板
考题
单选题THDS-A红外轴温探测系统如果报盘温故障，现象是盘温-100℃，出现问题的部件中不可能包括（）A
光子探头B
测温板C
数字IO卡D
AD采集卡
考题
单选题THDS-A（哈科所）探测站，红外轴温探测系统外探探头在晴朗天空下，天空值出现高值，有可能是（）所致。A
阳光干扰B
轴温高C
轴温低D
探头异常
考题
单选题THDS-A（哈科所）探测站，红外轴温探测系统外探探头在晴朗天空下，天空值出现高值有可能造成（）。A
误报热轴B
漏报热轴C
不报热轴D
以上都不对
考题
单选题在THDS-A设备（哈科所）探测站中，元温可代表（）。A
环温B
热靶温度C
探头内部温度D
以上都不对
考题
填空题THDS-A红外轴温探测系统如果报器件温度故障，现象是无制冷电流，器件温度接近环温，正确的解决办法是左右侧探头互换，故障也互换，则需要更换探头。若故障不移动，检查（）。
考题
单选题THDS-A（哈科所）探测站，红外轴温探测系统光子探头校零时测得的电压正常值为（）。A
1V±0.2VB
1V±1.0VC
1V±1.5VD
1V±2.0V
考题
多选题THDS-A（哈科所）探测站室外设备包括（）等。A控制箱B车轮传感器C红外轴温扫描器D卡轨器E车号天线
考题
判断题THDS-A（哈科所）探测站的轴温传感器有热敏探头和光子探头两种。A
对B
错
考题
单选题THDS-A（哈科所）探测站室外设备由红外轴温扫描器、卡轨器、过轨管组件、（）、环温箱、分线箱。A
控制箱B
车轮传感器C
电源箱D
UPS不间断电源
考题
单选题THDS-A（哈科所）探测站，红外轴温探测系统如果报元温故障正确的解决办法是（）。A
直接更换探头B
更换探头温控板C
左右侧探头互换，故障也互换，则需要更换探头D
以上都不对
考题
多选题THDS-A红外轴温探测系统如果报盘温故障，现象是盘温-100℃，可能出现问题的部件有（）A探头B测温板C数字IO卡D温控板E功放板
考题
多选题THDS-A（哈科所）探测站，光子探头板温异常产生的后果（）。A探头出现问题B无法正确测曲线C环温出现异常D影响轴温测温精度E不影响轴温测温精度
考题
单选题THDS-A（哈科所）探测站，红外轴温探测系统制冷电流不稳定容易造成探头测温（）。A
一致性好B
精确性高C
误差大D
可靠
