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一般情况下,介损tgδ试验主要反映设备的整体缺陷,而对局部缺陷反映不灵敏。


参考答案

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考题 J80、介质损失角试验能够反映出变压器绝缘所处的状态,但是( )。(A)对局部缺陷反映灵敏,对整体缺陷反映不灵敏 (B)对整体缺陷反映灵敏,对局部缺陷反映不灵敏 (C)对整体缺陷和局部缺陷反映都灵敏 (D)可能灵敏,可能不灵敏

考题 tanδ能反映绝缘的整体性缺陷和小电容试品中的严重局部性缺陷。A对B错

考题 测量变压器的介损,可以反映出变压器绕组是否有断股,接头接触不良等缺陷。()

考题 为什么测量大电容量、多元件组合的电力设备绝缘的tgδ,对反映局部缺陷并不灵敏?

考题 检测电力设备局部放电的目的在于反映其()。A、高温缺陷;B、机械损伤缺陷;C、伴随局部放电现象的绝缘缺陷;D、变压器油整体受潮缺陷。

考题 tanδ能反映绝缘的整体性缺陷和小电容试品中的严重局部性缺陷。

考题 在一般情况下,介质损耗tg∮试验主要反映设备绝缘的整体缺陷,而对局部缺陷反映不灵敏。

考题 介质损耗因数tg∮试验,可以发现设备绝缘整体受潮、劣化变质、以及小体积设备绝缘的某些局部缺陷。

考题 绝缘体有缺陷时,其介损tgδ将随试验()升高而变()。

考题 测量介质损耗因数,通常能发现的设备绝缘缺陷是()。A、整体受潮B、整体劣化C、小体积试品的局部缺陷D、大体积试品的局部缺陷

考题 介质损失角试验能够反映出绝缘所处的状态,正确的是()。A、对局部缺陷反应灵敏,对整体缺陷反应不灵敏;B、对整体缺陷反应灵敏,对局部缺陷反应不灵敏;C、对整体缺陷和局部缺陷反应都不灵敏;D、对局部缺陷和整体缺反应都灵敏。

考题 变压器套管整体绝缘显著降低,能够有效发现缺陷的可能试验项目是()。A、直流电阻B、阻抗测量C、套管绝缘电阻D、套管介损

考题 在运行中的变压器发生异常时,通过进行()可以发现变压器铁心磁路中的局部和整体缺陷。A、绕组介损试验B、空载试验C、套管电容量测试D、绕组绝缘电阻

考题 介质损失角试验能够反映出绝缘所处的状态,但()A、对局部缺陷反应灵敏,对整体缺陷反应不灵敏B、对整体缺陷反应灵敏,对局部缺陷反应不灵敏C、对整体缺陷和局部缺陷反应都不灵敏

考题 介损tgδ不能发现的缺陷有()。A、整体受潮B、劣化C、大体积绝缘的集中性缺陷D、小体积绝缘的集中性缺陷

考题 在一般情况下,介质损耗试验主要反映设备的整体缺陷,而对局部缺陷反映不灵敏

考题 测量变压器整体对地介损tgδ,可采用介损仪正接线及反接线。

考题 在一般情况下,介损tgδ试验主要反映设备绝缘的整体缺陷,而对局部缺陷反映不灵敏。

考题 电压致热型引起的发热可以反映设备的内部缺陷和外部缺陷,但是不包括以下哪一种缺陷()A、接触电阻增大B、泄漏电流增大C、介损增大D、表面有裂纹

考题 通常把绝缘电阻、泄漏电流、介损tgδ、油的化学性能等的试验叫作绝缘的予防性试验,试说明这些试验项目可以发现的绝缘缺陷的类型。

考题 在现场采用介损仪测量设备的介损tgδ时,若存在电场干扰,则在任意测试电源极性的情况下,所测得tgδ值一定比真实的tgδ增大。

考题 变电所高压电气设备试验项目包括()A、绝缘电阻的测量B、直流高压试验C、介损tgδ的测定D、交流耐压试验

考题 判断题介质损耗因数tg∮试验,可以发现设备绝缘整体受潮、劣化变质、以及小体积设备绝缘的某些局部缺陷。A 对B 错

考题 单选题测量介质损耗 数,通常不能发现的设备绝缘缺陷是()A 整体受潮B 整体劣化C 小体积试品的局部缺陷D 大体积试品的局部缺陷

考题 判断题在一般情况下,介损tgδ试验主要反映设备绝缘整体缺陷,而对局部缺陷反映不灵敏。A 对B 错

考题 单选题介质损失角试验能够反映出绝缘所处的状态,正确的是()。A 对局部缺陷反应灵敏,对整体缺陷反应不灵敏;B 对整体缺陷反应灵敏,对局部缺陷反应不灵敏;C 对整体缺陷和局部缺陷反应都不灵敏;D 对局部缺陷和整体缺反应都灵敏。

考题 判断题在一般情况下,介质损耗tg∮试验主要反映设备绝缘的整体缺陷,而对局部缺陷反映不灵敏。A 对B 错