考题
现场用QSl西林电桥测量设备的tgδ，当出现较大的电场干扰时，则在任意调换试验用电源的相别和极性的情况下，所测得的tgδ值均比真实值大。( )
考题
现场用QSI型西林电桥测量设备绝缘的tgδ，当出现较大电场干扰时，则在任意调换试验用电源的相别和极性的情况下，所测得的tgδ值大。
考题
在现场测量小电容量试品的介损tgδ值时，使测量结果引入诸多误差的外界因素主要指哪些？
考题
用正接线法测量绝缘介损一定比反接法测量的介损值要大。
考题
采用QS1交流电桥在现场测量设备的tgδ时，若试品的电容量较小，测量中出现负值，一定是存在着电场干扰。
考题
现场用QS1型西林电桥测量设备绝缘的tg∮，当出现较大电场干扰时，则在任意调换试验用电源的相别和极性的情况下，所测得的tg∮值均比真实的tg∮值大。
考题
当被试品电容量很小，测量其介损tgδ时，介损仪的高压引线与被试品的杂散电容对测量的影响不可忽视。
考题
在现场测量介损tgσ时，如果试验电源的电压波形不好，含有较大的（）分量，则电桥很难（）。
考题
电容型设备相对介质损耗因数是指（）。A、被试设备与参考设备介损值的差值B、被试设备与参考设备介损值的比值C、参考设备与被试设备介损值的差值D、参考设备与被试设备介损值的比值
考题
测量变压器整体对地介损tgδ，可采用介损仪正接线及反接线。
考题
测量变压器绕组的介损值时，介损测试仪应该使用正接法。（）
考题
测量绝缘介质出现负值的主要原因是（）A、标准电容有介损且大于被试品的介损B、电场干扰C、空间干扰D、湿度影响
考题
采用末端屏蔽法是测量串级式电压互感器介损tgδ的方法之一。其方法是高压端A加压，X端和底座接地，二、三次短路后，引入介损仪，采用正接线。
考题
用介损仪反接线测量小电容量试品（＜50PF）的介损tgδ及Cx时，在附近处有物体（如梯子等）情况下测得的电容值较物体拆除拆除后测得的电容值（）。A、大B、相等C、小D、以上均不是
考题
用反接线测量电磁式电流互感器的介损，一次加压，二次开路，对其测量介损tgδ值影响不大。
考题
在现场测量介损tgδ时，如果试验电源的电压波形不好，含有较大的（）分量，则电桥很难（）。在与电气化铁路距离较近的变电站测量介损tgδ时上述情况尤为严重。
考题
在现场相同条件下（好天气），用介损仪测量小电容试品的tgδ和Cx时，用正接线方法和反接线方法测量结果是完全相同的。
考题
用QS1交流电桥测量介损tgδ出现负值的主要原因是磁场干扰。
考题
用反接线方式，测量一台110kV电流互感器主绝缘介损tgδ，如介损仪本体接地不良，与其介损测量结果无关。
考题
小电容（小于500PF）试品，主要有电容型套管、电容型电流互感器等，对这些试品采用介损仪正、反接线进行测量，测得的介损tgδ值是一样的。
考题
测量串级式电压互感器介损tgδ的接线方法，有哪几种？
考题
用QS1电桥测量变压器套管连同绕组一起的介损tgδ，应采用何种接线？如何接线？
考题
用正接接线方式，测量一台110kV耦合电容器主绝缘介损tgδ，如介损仪的Cx与其耦合电容的末屏（接地小套管）接触不良，影响介损测量结果准确性。
考题
测量一台110kV电力变压器，高压绕组对中+低压绕组及地介损损tgδ，当tgδ不合格时，一般表明其高压套管tgδ不合格。
考题
进行绝缘介损测量时，当标准电容受潮而有较大介损时会使实测绝缘介损减少。（）
考题
判断题用QS1交流电桥测量介损tgδ出现负值的主要原因是磁场干扰。A
对B
错
考题
填空题在现场测量介损tgσ时，如果试验电源的电压波形不好，含有较大的（）分量，则电桥很难（）。
