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现场用QS1型西林电桥测量设备绝缘的tg∮,当出现较大电场干扰时,则在任意调换试验用电源的相别和极性的情况下,所测得的tg∮值均比真实的tg∮值大。


参考答案

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考题 现场用QSl西林电桥测量设备的tgδ,当出现较大的电场干扰时,则在任意调换试验用电源的相别和极性的情况下,所测得的tgδ值均比真实值大。( )

考题 现场用QSI型西林电桥测量设备绝缘的tgδ,当出现较大电场干扰时,则在任意调换试验用电源的相别和极性的情况下,所测得的tgδ值大。

考题 采用QS1交流电桥在现场测量设备的tgδ时,若试品的电容量较小,测量中出现负值,一定是存在着电场干扰。

考题 在电场干扰下测量电力设备绝缘的tgδ,其干扰电流是怎样形成的?

考题 在相同条件下,用QS1型西林电桥测量小电容试品中的tg∮和C时,用正接线方式和反接线方式测量的结果是完全相同的。

考题 使用QS1型交流电桥测量tanØ时,现场采用排除电场干扰的方法有以下几种()A、提高试验电压B、采用正接线方法C、用电桥内部“选相”、“倒相”法接线,排除干扰源对电源相位的干扰D、在被试设备上加装屏蔽罩

考题 使用QS1型交流电桥测量tanØ时,造成-tanØ值出现的原因有()A、温度影响B、强电场干扰C、测量中接线错误D、测量有抽取电压装置的电容式套管时,套管表面脏污

考题 现场用西林电桥测量设备绝缘的介质损耗因数,出现试验电源与干扰电源不同步,电桥测量无法平衡时,应采用的正确方法是()A、桥体加反干扰源B、将试验电源移相或选相、倒相C、改用与干扰源同步的电源作试验电源D、将电桥移位,远离干扰源

考题 为什么用QS1型西林电桥测量小电容试品介质损耗因数时,采用正接线好?

考题 用西林电桥测量tgδ时,若有磁场干扰,试述其消除方法?

考题 使用QS1型交流电桥测量tanØ时,当试验现场有运行的高压电气设备,尤其有漏磁通较大的电搞器、阻波器,测试将受到它们形成的磁场干扰,造成tanØ值增大或减小。

考题 QS1型交流电桥测量时,影响tanØ测量值因素主要有()A、电场干扰B、温度影响C、被试设备局部绝缘缺陷的影响D、测量电压的影响

考题 测量高压设备绝缘介质损失角正切值tg,一般使用的试验设备是()。A、QS1型西林电桥B、欧母表C、电压表D、兆欧表

考题 现场用电桥测量介质损耗因数,出现-tgδ的主要原因:①标准电容器CN有损耗,且tgδN>tgδx;②电场干扰;③试品周围构架杂物与试品绝缘结构形成的空间干扰网络的影响;④空气相对湿度及绝缘表面脏污的影响。

考题 用QS1型西林电桥测tgδ时的操作要点具体有哪些?

考题 现场用西林电桥测量设备绝缘的介质损耗因数,出现试验电源与干扰电源不同步,电桥测量无法平衡时,应采用的正确方法是()。A、桥体加反干扰源B、将试验电源移相或选相、倒相C、改用与干扰源同步的电源作试验电源

考题 用QS1型西林电桥测tgδ,消除电场干扰的方法有哪些?

考题 测量tgδ时,为何要选择QS1电桥的分流位置?

考题 用QS1交流电桥测量介损tgδ出现负值的主要原因是磁场干扰。

考题 当采用QS1型西林电桥,以低压电源、CN=0.01μF进行测量时,其Cx的可测范围是300pF~1000μF。

考题 用QS1型西林电桥测tgδ时的操作要点有哪些?

考题 判断题用QS1交流电桥测量介损tgδ出现负值的主要原因是磁场干扰。A 对B 错

考题 判断题现场用QS1型西林电桥测量设备绝缘的tg∮,当出现较大电场干扰时,则在任意调换试验用电源的相别和极性的情况下,所测得的tg∮值均比真实的tg∮值大。A 对B 错

考题 单选题现场用西林电桥测量设备绝缘的介质损耗因数,出现试验电源与干扰电源不同步,电桥测量无法平衡时,应采用的正确方法是()A 桥体加反干扰源B 将试验电源移相或选相、倒相C 改用与干扰源同步的电源作试验电源D 将电桥移位,远离干扰源

考题 问答题在电场干扰下测量电力设备绝缘的tgδ,其干扰电流是怎样形成的?

考题 单选题试品电容量约15000pF,使用QS1型西林电桥,施加10kV测量其tgδ时,电桥分流器位置宜选定在()档位置A 0.01B 0.025C 0.06D 0.15

考题 判断题在相同条件下,用QS1型西林电桥测量小电容试品中的tg∮和C时,用正接线方式和反接线方式测量的结果是完全相同的。A 对B 错