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在相同条件下,用QS1型西林电桥测量小电容试品中的tg∮和C时,用正接线方式和反接线方式测量的结果是完全相同的。


参考答案

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考题 在相同条件下,用QSl西林电桥测量小电容试品的tgδ和Cx时,用正接线方法和反接线方式测量的结果是完全相同的。( )

考题 用QSl型西林电桥进行实际测量时,消除磁场干扰的办法有:将电桥移到磁场干扰以外;在检流计极性转换开关处于两种不同位置时,调节电桥平衡,求得每次平衡时的试品tgδ值和电容值,然后再求取两次的平均值,以消除磁场干扰的影响。( )

考题 QS1电桥内有一套低压电源和低压标准电容器,可测量电容量为300PF~100μF的试品。A对B错

考题 计算题:用QS1电桥测量110KV套管介损tg时,试验电压为10KV,标准电容CN为50pF;电桥平衡时,R3=345Ω,试计算CX之值。(R4为定值3184Ω)

考题 采用QS1交流电桥在现场测量设备的tgδ时,若试品的电容量较小,测量中出现负值,一定是存在着电场干扰。

考题 QS1电桥内有一套低压电源和低压标准电容器,可测量电容量为300PF~100μF的试品。

考题 适用QSI型西林电桥测量试品tg∮,接通或断开电源时,检流计灵敏度应在中间位置。

考题 在QS1型西林电桥测量操作中,若分流器档位设置电流值较大于试品实际电流值,则电桥的调节值需趋向最高值,电桥R3才能趋向平衡。

考题 现场用QS1型西林电桥测量设备绝缘的tg∮,当出现较大电场干扰时,则在任意调换试验用电源的相别和极性的情况下,所测得的tg∮值均比真实的tg∮值大。

考题 为什么用QS1型西林电桥测量小电容试品介质损耗因数时,采用正接线好?

考题 试品绝缘表面脏污、受潮,在试验电压下产生表面泄漏电流,描述正确的是()。A、试品电容量越大,对试品tgδ和C测量结果影响越大B、试品电容量越大,对试品tgδ和C测量结果影响越小C、试品电容量大小,对试品tgδ和C测量结果不影响D、以上均不是

考题 在相同条件下,用QSI型西林电桥测量小电容试品的tgδT和C时,用正接线方式和反接线方式测量的结果是完全相同的。

考题 用QS1型西林电桥测量介损时,怎样选择分流器位置?若被试品电容量约为4000pF(U=10kV)分流器应在何位置?

考题 用QS1电桥测量110kV套管介损tgδ值时,试验电压为10kV,标准电容CN为50pF;电桥平衡时,R3=345Ω,试计算Cx之值。(R4为定值3184Ω)

考题 用QS1型西林电桥测tgδ时的操作要点具体有哪些?

考题 在现场相同条件下(好天气),用介损仪测量小电容试品的tgδ和Cx时,用正接线方法和反接线方法测量结果是完全相同的。

考题 用QS1型西林电桥测tgδ,消除电场干扰的方法有哪些?

考题 测量tgδ时,为何要选择QS1电桥的分流位置?

考题 变压器采用QS1型交流电桥反接线测量线圈绕组tgδ时,对于三线圈变压器试写出被试线圈及相应的接地部位。

考题 用QS1型西林电桥测tgδ时的操作要点有哪些?

考题 判断题适用QSI型西林电桥测量试品tg∮,接通或断开电源时,检流计灵敏度应在中间位置。A 对B 错

考题 判断题现场用QS1型西林电桥测量设备绝缘的tg∮,当出现较大电场干扰时,则在任意调换试验用电源的相别和极性的情况下,所测得的tg∮值均比真实的tg∮值大。A 对B 错

考题 单选题试品电容量约为15000pF,当用10kVQS1型西林电桥测量其tgδ及C时,电桥分流器档位宜设置在()档A 0.01B 0.025C 0.06D 0.15

考题 判断题在QS1型西林电桥测量操作中,若分流器档位设置电流值较大于试品实际电流值,则电桥的调节值需趋向最高值,电桥R3才能趋向平衡。A 对B 错

考题 问答题一台变压器,用QS1交流电桥测量高压绕组对其他绕组及地的介质损耗tgδ和Cx时,已知试验电压为10KV,标准电容CN为50皮法,分流器在0.06档,电桥平衡时,R3为64欧,e为0.4欧,tgδ为0.8%,试计算Cx之值(R4为3184欧)。

考题 单选题试品电容量约15000pF,使用QS1型西林电桥,施加10kV测量其tgδ时,电桥分流器位置宜选定在()档位置A 0.01B 0.025C 0.06D 0.15

考题 判断题在相同条件下,用QS1型西林电桥测量小电容试品中的tg∮和C时,用正接线方式和反接线方式测量的结果是完全相同的。A 对B 错