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判断题
在相同条件下,用QS1型西林电桥测量小电容试品中的tg∮和C时,用正接线方式和反接线方式测量的结果是完全相同的。
A

B


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考题 在相同条件下,用QSl西林电桥测量小电容试品的tgδ和Cx时,用正接线方法和反接线方式测量的结果是完全相同的。( )

考题 用QS-1型西林电桥反接线测量时,试验电压不能超过()KV,而正接线测量时却()限制。

考题 西林电桥测试tanδ时采用正接线时适用于被试品不能与地隔离时的测量。A对B错

考题 采用QS1电桥测量tanδ的接线方式一般有差接线及和接线。A对B错

考题 采用QS1电桥测量tanδ,正接线比反接线准确度低。A对B错

考题 采用QS1交流电桥在现场测量设备的tgδ时,若试品的电容量较小,测量中出现负值,一定是存在着电场干扰。

考题 西林电桥测试tanδ时采用正接线时适用于被试品不能与地隔离时的测量。

考题 在相同条件下,用QS1型西林电桥测量小电容试品中的tg∮和C时,用正接线方式和反接线方式测量的结果是完全相同的。

考题 用末端屏蔽法测量串级式电压互感器的tg∮具体接法是:高压绕组A端加压,X端和底座接地;二次测量绕线和辅助绕组均短接后与电桥CX引线相连;电桥按正接线方式工作。

考题 QS1型西林电桥正接线时电桥桥臂都处于高电位。

考题 采用QS1电桥测量tanδ,正接线比反接线准确度低。

考题 采用QS1电桥测量tanδ的接线方式一般有差接线及和接线。

考题 西林电桥测试tanδ时采用()时适用于被试品不能与地隔离时的测量。A、正接线B、反接线C、交叉接线

考题 为什么用QS1型西林电桥测量小电容试品介质损耗因数时,采用正接线好?

考题 在相同条件下,用QSI型西林电桥测量小电容试品的tgδT和C时,用正接线方式和反接线方式测量的结果是完全相同的。

考题 用QS1型西林电桥测量介损时,怎样选择分流器位置?若被试品电容量约为4000pF(U=10kV)分流器应在何位置?

考题 在现场相同条件下(好天气),用介损仪测量小电容试品的tgδ和Cx时,用正接线方法和反接线方法测量结果是完全相同的。

考题 变压器采用QS1型交流电桥反接线测量线圈绕组tgδ时,对于三线圈变压器试写出被试线圈及相应的接地部位。

考题 小电容(小于500PF)试品,主要有电容型套管、电容型电流互感器等,对这些试品采用介损仪正、反接线进行测量,测得的介损tgδ值是一样的。

考题 用QS1电桥测量变压器套管连同绕组一起的介损tgδ,应采用何种接线?如何接线?

考题 用正接接线方式,测量一台110kV耦合电容器主绝缘介损tgδ,如介损仪的Cx与其耦合电容的末屏(接地小套管)接触不良,影响介损测量结果准确性。

考题 现场测试中,使用QS1电桥测tgδ%,下列设备哪些适合正接线。()A、变压器本体B、变压器电容型套管C、耦合电容器D、CVT

考题 判断题采用QS1电桥测量tanδ的接线方式一般有差接线及和接线。A 对B 错

考题 判断题西林电桥测试tanδ时采用正接线时适用于被试品不能与地隔离时的测量。A 对B 错

考题 单选题试品电容量约15000pF,使用QS1型西林电桥,施加10kV测量其tgδ时,电桥分流器位置宜选定在()档位置A 0.01B 0.025C 0.06D 0.15

考题 判断题QS1型西林电桥正接线时电桥桥臂都处于高电位。A 对B 错

考题 单选题西林电桥测试tanδ时采用()时适用于被试品不能与地隔离时的测量。A 正接线B 反接线C 交叉接线