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测量介质损耗因数,通常能发现的设备绝缘缺陷是()。

  • A、整体受潮
  • B、整体劣化
  • C、小体积试品的局部缺陷
  • D、大体积试品的局部缺陷

参考答案

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考题 当电流互感器末屏绝缘电阻不能满足要求时,可通过测量末屏介质损耗因数作进一步判断,测量电压为2kV,通常要求小于0.015。( )

考题 介质损耗测量能发现被试物所有绝缘缺陷。()

考题 绝缘介质的介质损耗因数只能用于判断(),对于判断局部缺陷不灵敏,还需通过色谱分析、绝缘电阻、交流耐压等方法综合分析。

考题 变压器绕组绝缘介质损耗因数与()比较变大或者变小可能是缺陷的反映。

考题 测量介质损耗因数,通常不易发现()。A、整体受潮B、绝缘油劣化C、小体积试品的局部缺陷D、大体积试品的局部缺陷

考题 介质损耗tanδ主要反映设备绝缘的集中性缺陷。

考题 测量介质损耗 数,通常不能发现的设备绝缘缺陷是()A、整体受潮B、整体劣化C、小体积试品的局部缺陷D、大体积试品的局部缺陷

考题 测量绝缘电阻及直流泄漏电流通常()发现的设备绝缘缺陷是整体老化及局部缺陷。

考题 测介质损耗因数tgδ不能有效发现的绝缘缺陷是()A、穿透性导电通道B、降绝缘内含气泡的电离C、受热D、绝缘油脏污、劣化

考题 可以用介质损耗正切值来表示介质损耗的大小,通过测量介质损耗正切值,可以发现()等绝缘缺陷,是判定绝缘好坏的一项重要数据.A、绝缘受潮缺陷B、贯通性绝缘缺陷C、绝缘老化缺陷D、绝缘气隙放电缺陷

考题 测量介质损耗因数,通常不能发现的设备绝缘缺陷是()A、整体受潮B、整体劣化C、小体积试品的局部缺陷D、大体积试品的局部缺陷

考题 介质损耗因数tg∮试验,可以发现设备绝缘整体受潮、劣化变质、以及小体积设备绝缘的某些局部缺陷。

考题 测量绝缘油的介质损耗因数时,汕温一般为()后在测量。A、90℃B、室温C、0℃D、50℃

考题 绝缘油介质损耗测试以()次有效测量值的平均值作为试样的介质损耗因数。A、1B、2C、3D、4

考题 测量变压器绕组绝缘介质损耗因数时,应同时测量电容值,若此电容值发生明显变化,应予以注意。分析时应注意()对介质损耗因数的影响。A、温度B、湿度C、环境D、风力

考题 电力变压器、电抗器绕组绝缘介质损耗因数测量,必要时分别测量()的绝缘介质损耗因数。A、被测绕组本体B、被测绕组对地C、被测绕组对其它绕组D、相邻绕组

考题 测量绝缘电阻及直流泄漏电流通常能发现的设备绝缘缺陷是()。A、贯穿性缺陷B、整体受潮C、小体积试品的局部缺陷D、大体积试品的局部缺陷

考题 为什么说测量电气设备的介质损耗因数tgδ,对判断设备绝缘的优劣状况具有重要意义?

考题 电压互感器绝缘电阻超过要求,或者怀疑绕组绝缘存在缺陷时,可进行()试验。A、绕组绝缘介质损耗因数B、支架绝缘介质损耗因数C、油中溶解气体分析D、气体密度继电器校验

考题 电容型设备绝缘在线监测装置介质损耗因数的测量范围为()。A、0.001~0.3B、0~0.3C、0.0001~0.5D、0~1

考题 测量介质损耗因数,对发现以下哪些缺陷较为有效?()A、整体受潮B、绝缘油劣化C、小体积试品的局部缺陷D、大体积试品的局部缺陷

考题 单选题测量介质损耗因数,通常不能发现的设备绝缘缺陷是()A 整体受潮B 整体劣化C 小体积试品的局部缺陷D 大体积试品的局部缺陷

考题 单选题下列缺陷不能由测量介质损耗角正切发现的是()。A 整体受潮B 全面老化C 绝缘油脏污劣化D 大容量设备的局部缺陷

考题 判断题介质损耗因数tg∮试验,可以发现设备绝缘整体受潮、劣化变质、以及小体积设备绝缘的某些局部缺陷。A 对B 错

考题 单选题测量介质损耗 数,通常不能发现的设备绝缘缺陷是()A 整体受潮B 整体劣化C 小体积试品的局部缺陷D 大体积试品的局部缺陷

考题 填空题测量绝缘电阻及直流泄漏电流通常()发现的设备绝缘缺陷是整体老化及局部缺陷。