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单选题
测量介质损耗因数,通常不能发现的设备绝缘缺陷是()
A

整体受潮

B

整体劣化

C

小体积试品的局部缺陷

D

大体积试品的局部缺陷


参考答案

参考解析
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考题 测量介质损耗 数,通常不能发现的设备绝缘缺陷是()A、整体受潮B、整体劣化C、小体积试品的局部缺陷D、大体积试品的局部缺陷

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考题 可以用介质损耗正切值来表示介质损耗的大小,通过测量介质损耗正切值,可以发现()等绝缘缺陷,是判定绝缘好坏的一项重要数据.A、绝缘受潮缺陷B、贯通性绝缘缺陷C、绝缘老化缺陷D、绝缘气隙放电缺陷

考题 测量介质损耗因数,通常不能发现的设备绝缘缺陷是()A、整体受潮B、整体劣化C、小体积试品的局部缺陷D、大体积试品的局部缺陷

考题 介质损耗因数tg∮试验,可以发现设备绝缘整体受潮、劣化变质、以及小体积设备绝缘的某些局部缺陷。

考题 测量绝缘电阻及直流泄漏电流通常不能发现的设备绝缘缺陷是()A、贯穿性缺陷B、整体受潮C、贯穿性受潮或脏污D、整体老化及局部缺陷

考题 测量介质损耗因数,通常能发现的设备绝缘缺陷是()。A、整体受潮B、整体劣化C、小体积试品的局部缺陷D、大体积试品的局部缺陷

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