网友您好, 请在下方输入框内输入要搜索的题目:

题目内容 (请给出正确答案)

测量绝缘电阻及直流泄漏电流通常能发现的设备绝缘缺陷是()。

  • A、贯穿性缺陷
  • B、整体受潮
  • C、小体积试品的局部缺陷
  • D、大体积试品的局部缺陷

参考答案

更多 “测量绝缘电阻及直流泄漏电流通常能发现的设备绝缘缺陷是()。A、贯穿性缺陷B、整体受潮C、小体积试品的局部缺陷D、大体积试品的局部缺陷” 相关考题
考题 测量绝缘电阻的作用是()。测量绝缘电阻可以检查产品是否达到设计的绝缘水平;通过测量绝缘电阻,可以判断电气设备绝缘有无局部贯穿性缺陷、绝缘老化和受潮现象;由所测绝缘电阻能发现电气设备导电部分影响绝缘的异物,绝缘油严重劣化、绝缘击穿和严重热老化等缺陷;是检查其绝缘状态最简便的辅助方法

考题 测量绝缘电阻对下列哪种绝缘缺陷较灵敏( )。A.局部缺陷 B.绝缘老化 C.局部受潮 D.贯穿性导电通道

考题 测量绝缘电阻不能有效发现的缺陷是( )。A.绝缘整体受潮 B.存在贯穿性的导电通道 C.绝缘局部严重受潮 D.绝缘中的局部缺陷

考题 测量绝缘电阻对下列哪种绝缘缺陷较灵敏()。A局部缺陷B绝缘老化C局部受潮D贯穿性导电通道

考题 测量绝缘电阻不能有效发现的缺陷是()。A绝缘整体受潮B存在贯穿性的导电通道C绝缘局部严重受潮D绝缘中的局部缺陷

考题 tanδ能反映绝缘的整体性缺陷和小电容试品中的严重局部性缺陷。A对B错

考题 测量绝缘电阻及直流泄漏电流通常不能发现的设备绝缘缺陷是()A、贯穿性缺陷B、整体受潮C、贯穿性受潮或脏污D、局部缺陷

考题 测量介质损耗因数,通常不易发现()。A、整体受潮B、绝缘油劣化C、小体积试品的局部缺陷D、大体积试品的局部缺陷

考题 采用直流耐压和直流泄漏电流试验方法检测电气设备绝缘性能,对于发现绝缘材料整体的()是比较有效的A、绝缘受潮缺陷B、贯通性绝缘缺陷C、绝缘老化缺陷D、绝缘气隙放电缺陷

考题 测量绝缘电阻及直流泄漏电流通常()发现的设备绝缘缺陷是整体老化及局部缺陷。

考题 直流泄漏电流测量及直流耐压试验比用绝缘电阻表测量绝缘电阻更易发现某些绝缘缺陷。

考题 测量电力设备的泄漏电流能发现电力设备绝缘哪些性质的缺陷。()A、集中性缺陷、B、整体受潮缺陷C、有贯通的部分受潮缺陷D、一些未完全贯通的集中性缺陷,开裂、破损等

考题 tanδ能反映绝缘的整体性缺陷和小电容试品中的严重局部性缺陷。

考题 介质损耗因数tg∮试验,可以发现设备绝缘整体受潮、劣化变质、以及小体积设备绝缘的某些局部缺陷。

考题 测量介质损耗因数,通常能发现的设备绝缘缺陷是()。A、整体受潮B、整体劣化C、小体积试品的局部缺陷D、大体积试品的局部缺陷

考题 测试设备的绝缘电阻主要为了发现设备是否局部受潮或存在局部的,非贯穿性缺陷。()

考题 绝缘电阻的测量只能检测贯穿性绝缘缺陷,而不能检测局部缺陷。

考题 测量绝缘电阻及直流泄漏电流通常不能发现的设备绝缘缺陷是()。A、贯穿性缺陷;B、整体受潮;C、贯穿性受潮或脏污;D、整体老化及局部缺陷。

考题 测量介质损耗因数,通常不能发现的设备绝缘缺陷是()。A、整体受潮;B、整体劣化;C、小体积试品的局部缺陷;D、大体积试品的局部缺陷。

考题 测量介质损耗因数,对发现以下哪些缺陷较为有效?()A、整体受潮B、绝缘油劣化C、小体积试品的局部缺陷D、大体积试品的局部缺陷

考题 单选题测量介质损耗因数,通常不能发现的设备绝缘缺陷是()A 整体受潮B 整体劣化C 小体积试品的局部缺陷D 大体积试品的局部缺陷

考题 判断题tanδ能反映绝缘的整体性缺陷和小电容试品中的严重局部性缺陷。A 对B 错

考题 单选题测量绝缘电阻不能有效发现的缺陷是()。A 绝缘整体受潮B 存在贯穿性的导电通道C 绝缘局部严重受潮D 绝缘中的局部缺陷

考题 问答题测量绝缘电阻能发现哪些绝缘缺陷?试比较它与测量泄漏电流试验项目的异同。

考题 单选题测量绝缘电阻对下列哪种绝缘缺陷较灵敏()。A 局部缺陷B 绝缘老化C 局部受潮D 贯穿性导电通道

考题 填空题测量绝缘电阻及直流泄漏电流通常()发现的设备绝缘缺陷是整体老化及局部缺陷。

考题 单选题测量绝缘电阻及直流泄漏电流通常不能发现的设备绝缘缺陷是()。A 贯穿性缺陷B 整体受潮C 贯穿性受潮或脏污D 整体老化及局部缺陷。