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介质损失角试验能够反映出绝缘所处的状态,但()

  • A、对局部缺陷反应灵敏,对整体缺陷反应不灵敏
  • B、对整体缺陷反应灵敏,对局部缺陷反应不灵敏
  • C、对整体缺陷和局部缺陷反应都不灵敏

参考答案

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考题 检测变压器噪声的目的在于可以反应变压器( ).高温缺陷;可以引起振动的机械损伤缺陷;伴随局部放电的绝缘缺陷;整体受潮缺陷

考题 J80、介质损失角试验能够反映出变压器绝缘所处的状态,但是( )。(A)对局部缺陷反映灵敏,对整体缺陷反映不灵敏 (B)对整体缺陷反映灵敏,对局部缺陷反映不灵敏 (C)对整体缺陷和局部缺陷反映都灵敏 (D)可能灵敏,可能不灵敏

考题 测量绝缘电阻对下列哪种绝缘缺陷较灵敏( )。A.局部缺陷 B.绝缘老化 C.局部受潮 D.贯穿性导电通道

考题 测量绝缘电阻对下列哪种绝缘缺陷较灵敏()。A局部缺陷B绝缘老化C局部受潮D贯穿性导电通道

考题 一般来说,被试设备的体积电容愈大,或局部集中缺陷的范围愈小,总体tanδ的数值增加也就愈小,对缺陷的反映愈不灵敏。A对B错

考题 介质损耗角正切值tanδ对局部集中缺陷不太灵敏时,一般将设备进行分解试验。A对B错

考题 当绝缘内的缺陷不是整体分布性的,而是集中在某一小点,介质损耗正切值tanδ对这类局部缺陷的反应不够灵敏。A对B错

考题 绝缘介质的介质损耗因数只能用于判断(),对于判断局部缺陷不灵敏,还需通过色谱分析、绝缘电阻、交流耐压等方法综合分析。

考题 为什么测量大电容量、多元件组合的电力设备绝缘的tgδ,对反映局部缺陷并不灵敏?

考题 一般情况下,介损tgδ试验主要反映设备的整体缺陷,而对局部缺陷反映不灵敏。

考题 X射线检查焊缝缺陷时,对裂纹显示()A、不可见B、灵敏C、非常灵敏D、不灵敏

考题 一般来说,被试设备的体积电容愈大,或局部集中缺陷的范围愈小,总体tanδ的数值增加也就愈小,对缺陷的反映愈不灵敏。

考题 测量介质损耗因数,通常能发现的设备绝缘缺陷是()。A、整体受潮B、整体劣化C、小体积试品的局部缺陷D、大体积试品的局部缺陷

考题 介质损失角试验能够反映出绝缘所处的状态,正确的是()。A、对局部缺陷反应灵敏,对整体缺陷反应不灵敏;B、对整体缺陷反应灵敏,对局部缺陷反应不灵敏;C、对整体缺陷和局部缺陷反应都不灵敏;D、对局部缺陷和整体缺反应都灵敏。

考题 在一般情况下,介质损耗试验主要反映设备的整体缺陷,而对局部缺陷反映不灵敏

考题 在一般情况下,介损tgδ试验主要反映设备绝缘的整体缺陷,而对局部缺陷反映不灵敏。

考题 当绝缘内的缺陷不是整体分布性的,而是集中在某一小点,介质损耗正切值tanδ对这类局部缺陷的反应()。A、不够灵敏B、较灵敏C、与整体分布性缺陷具有同样的灵敏度

考题 在一般情况下,介质损耗tgδ试验主要反映设备绝缘的整体缺陷,而对局部缺陷反映不灵敏。

考题 当绝缘内的缺陷不是整体分布性的,而是集中在某一小点,介质损耗正切值tanδ对这类局部缺陷的反应不够灵敏。

考题 测量介质损耗因数,对发现以下哪些缺陷较为有效?()A、整体受潮B、绝缘油劣化C、小体积试品的局部缺陷D、大体积试品的局部缺陷

考题 判断题一般来说,被试设备的体积电容愈大,或局部集中缺陷的范围愈小,总体tanδ的数值增加也就愈小,对缺陷的反映愈不灵敏。A 对B 错

考题 判断题在一般情况下,介损tgδ试验主要反映设备绝缘整体缺陷,而对局部缺陷反映不灵敏。A 对B 错

考题 判断题当绝缘内的缺陷不是整体分布性的,而是集中在某一小点,介质损耗正切值tanδ对这类局部缺陷的反应不够灵敏。A 对B 错

考题 单选题介质损失角试验能够反映出绝缘所处的状态,正确的是()。A 对局部缺陷反应灵敏,对整体缺陷反应不灵敏;B 对整体缺陷反应灵敏,对局部缺陷反应不灵敏;C 对整体缺陷和局部缺陷反应都不灵敏;D 对局部缺陷和整体缺反应都灵敏。

考题 单选题测量绝缘电阻对下列哪种绝缘缺陷较灵敏()。A 局部缺陷B 绝缘老化C 局部受潮D 贯穿性导电通道

考题 判断题在一般情况下,介质损耗tg∮试验主要反映设备绝缘的整体缺陷,而对局部缺陷反映不灵敏。A 对B 错