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在锻件直探头探伤时可能定不准靠近侧壁的缺陷的位置,其原因是()。

  • A、探头太大,无法移至边缘
  • B、侧壁反射波发生干涉
  • C、频率太高
  • D、以上都不是

参考答案

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考题 在锻件探伤中出现草状回波的原因是由于探头灵敏度过高。

考题 方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大,该缺陷的取向可能是()A、平行且靠近探测面B、与声束方向平行C、与探测面成较大角度D、平行且靠近底面

考题 饼类锻件最主要探测方向是()A、直探头端面探伤B、直探头侧面探伤C、斜探头端面探伤D、斜探头侧面探伤

考题 在锻件直探头探伤时可能定不准近侧面缺陷的位置,其原因是()A、侧面反射波带来干涉B、探头太大,无法移至边缘C、频率太高D、以上都不是

考题 筒形锻件最主要探测方向是:()A、直探头端面和外圆面探伤B、直探头外圆面轴向探伤C、斜探头外圆面轴向探伤D、以上都是

考题 大锻件探伤时,通常采用直探头,其主要原因是()A、锻造缺陷一般与锻造纤维方向平行B、探测面通常选择与锻造纤维方向平行的面C、锻件尺寸大,纵波探伤穿透力强D、以上三种原因都是

考题 用直探头检验钢锻件时,引起底波明显降低或消失的因素有()A、底面与探伤面不平行B、工件内部有倾斜的大缺陷C、工件内部有材质衰减大的部位D、以上都有可能

考题 直探头接触法探伤时,底面回波降低或消失的原因是()。A、 耦合不良B、 存在与声束不垂直的缺陷C、 存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D、 以上都可能

考题 直探头接触法探伤时,发现缺陷回波较低,且底面回波降低或消失的原因是与工件表面呈()。

考题 对饼形锻件,采用直探头作径向探测是最佳的探伤方法。()

考题 用直探头对轴类锻件探伤时可分为径向和轴向探测。前者有利于发现轴类锻件常见的()缺陷,后者有利于检出()缺陷。

考题 方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一游动缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大,该缺陷取向可能是()。A、平行且靠近探测面B、与声束方向平行C、与探测面成较大角度D、平行且靠近底面

考题 直探头探伤所定的缺陷深度也就是缺陷声程。

考题 单选题大锻件探伤时,通常采用直探头,其主要原因是()A 锻造缺陷一般与锻造纤维方向平行B 探测面通常选择与锻造纤维方向平行的面C 锻件尺寸大,纵波探伤穿透力强D 以上三种原因都是

考题 单选题用直探头在工件端面探测离侧壁极近的小缺陷时,探头最不利的探测位置是()A 尽可能靠近侧壁;B 离侧壁10mm;C 离侧壁一个探头直径的距离处;D 离侧壁二个探头直径的距离处。

考题 填空题用直探头对轴类锻件探伤时可分为径向和轴向探测。前者有利于发现轴类锻件常见的()缺陷,后者有利于检出()缺陷。

考题 单选题筒形锻件最主要探测方向是:()A 直探头端面和外圆面探伤B 直探头外圆面轴向探伤C 斜探头外圆面轴向探伤D 以上都是

考题 单选题方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一游动缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大。该缺陷取向可能是()。A 平行且靠近探测面B 与声速方向平行C 与探测面成较大角度D 平行且靠近底面

考题 单选题方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一游动缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大,该缺陷取向可能是()。A 平行且靠近探测面B 与声束方向平行C 与探测面成较大角度D 平行且靠近底面

考题 单选题饼类锻件最主要探测方向是:()A 直探头端面探伤B 直探头侧面探伤C 斜探头端面探伤D 斜探头侧面探伤

考题 单选题轴类锻件最主要探测方向是:()A 轴向直探头探伤B 径向直探头探伤C 斜探头外圆面轴向探伤D 斜探头外圆面周向探伤

考题 单选题在锻件直探头探伤时可能定不准近侧面缺陷的位置,其原因是:()A 侧面反射波带来干涉B 探头太大,无法移至边缘C 频率太高D 以上都不是

考题 单选题方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大,该缺陷的取向可能是()A 平行且靠近探测面B 与声束方向平行C 与探测面成较大角度D 平行且靠近底面

考题 判断题直探头在圆柱形轴类锻件外圆探伤时,发现的游动回波都是裂纹回波。A 对B 错

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