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直探头接触法探伤时,发现缺陷回波较低,且底面回波降低或消失的原因是与工件表面呈()。
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考题
方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大,该缺陷的取向可能是()A.平行且靠近探测面
B.与声束方向平行
C.与探测面成较大角度
D.平行且靠近底面
考题
方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大,该缺陷的取向可能是()A、平行且靠近探测面B、与声束方向平行C、与探测面成较大角度D、平行且靠近底面
考题
单选题斜入射横波法探测平板形试块时,探测回波中()A
没有底面回波B
有底面回波C
有大型缺陷回波,底面回波消失D
缺陷回波和底面回波同时存在
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