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直探头接触法探伤时，底面回波降低或消失的原因是（）。

  • A、 耦合不良
  • B、 存在与声束不垂直的缺陷
  • C、 存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷
  • D、 以上都可能

参考答案

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考题 直探头纵波探伤时，工件上下表面不平行会产生（）。A、底面回波降低或消失B、底面回波不降低C、底面回波变窄D、以上都不对
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考题 在脉冲反射法探伤中判断缺陷存在的根据有（）A、缺陷回波B、底波或参考回波的减弱或消失C、接收探头接收到的能量的减弱D、接收探头接收到的能量的增强
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考题 在脉冲反射法探伤中可根据什么判断缺陷的存在？（）A、缺陷回波B、底波或参考回波的减弱或消失C、接收探头接收到的能量的减弱D、AB都对
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考题 在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因是（）A、耦合不良B、存在与声束不垂直的平面缺陷C、存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D、以上都是
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考题 在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因可能有（）A、耦合不良B、存在与声束不垂直的平面缺陷C、存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D、工件材料衰减过大
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考题 在直接接触法直探头检测时，底波消失的原因是（）。A、耦合不良B、存在与声束不垂直的平面缺陷C、存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D、以上都可能造成底波消失
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考题 接触法垂直探伤中，造成底波幅度降低的原因可能是（）A、耦合不良B、存在与声束不垂直的缺陷；C、存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D、以上都是
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考题 直探头接触法探伤时，（）要涂布耦合剂。A、探头与工件表面之间B、工件底面与空气之间C、仪器与探头之间D、以上都不对
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考题 直探头垂直扫查“矩形锻件”时，工件底面回波迅速降低或消失的原因是（）。A、底波被较大的面积性缺陷反射B、底波被较小的单个球状缺陷反射C、底波的能量被转换为电能而吸收D、以上都可能
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考题 直探头接触法探伤时，发现缺陷回波较低，且底面回波降低或消失的原因是与工件表面呈（）。
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考题 穿透探伤时如发现底面回波与始波间有可疑回波出现，应进行危害性分析.确定（）和判定（）。A、缺陷存在的位臵裂纹的尺寸B、裂纹存在的位臵缺陷的性质C、缺陷存在的位臵缺陷的性质D、裂纹存在的位臵裂纹的尺寸
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考题 在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因是（）。A、耦合不良B、存在与声束不垂直的平面缺陷C、耦合太好D、存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷
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考题 在脉冲反射法探伤中可根据什么判断缺陷的存在（）。A、缺陷回波B、底波或参考回波的减弱C、底波或参考回波的消失D、接收探头接收到的能量的减弱
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考题 在直接接触法垂直探伤时，底面回波消失的原因的（）A、耦合不良B、缺陷面积大于声束截面C、存在与声束垂直的平面型缺陷D、以上都不是
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考题 穿透探伤时如发现底面回波与始波间有可疑回波出现，应进行危害性分析：确定（）和判定（）A、缺陷存在的位置、裂纹的尺寸B、裂纹存在的位置、缺陷的性质C、缺陷存在的位置、缺陷的性质D、裂纹存在的位置、裂纹的尺寸
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考题 多选题在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因可能有（）A耦合不良B存在与声束不垂直的平面缺陷C存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D工件材料衰减过大
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考题 单选题在直接接触法垂直探伤时，底面回波消失的原因的（）A 耦合不良B 缺陷面积大于声束截面C 存在与声束垂直的平面型缺陷D 以上都不是
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考题 多选题在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因是（）。A耦合不良B存在与声束不垂直的平面缺陷C耦合太好D存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷
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考题 多选题在脉冲反射法探伤中可根据什么判断缺陷的存在（）。A缺陷回波B底波或参考回波的减弱C底波或参考回波的消失D接收探头接收到的能量的减弱
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考题 多选题在脉冲反射法探伤中判断缺陷存在的根据有（）A缺陷回波B底波或参考回波的减弱或消失C接收探头接收到的能量的减弱D接收探头接收到的能量的增强
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考题 单选题在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因是：（）A 耦合不良B 存在与声束不垂直的平面缺陷C 存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D 以上都是
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考题 单选题在直接接触法直探头检测时，底波消失的原因是（）。A 耦合不良B 存在与声束不垂直的平面缺陷C 存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D 以上都可能造成底波消失
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