网友您好, 请在下方输入框内输入要搜索的题目:

题目内容 (请给出正确答案)
单选题
用直探头在工件端面探测离侧壁极近的小缺陷时,探头最不利的探测位置是()
A

尽可能靠近侧壁; 

B

离侧壁10mm; 

C

离侧壁一个探头直径的距离处; 

D

离侧壁二个探头直径的距离处。


参考答案

参考解析
解析: 暂无解析
更多 “单选题用直探头在工件端面探测离侧壁极近的小缺陷时,探头最不利的探测位置是()A 尽可能靠近侧壁;B 离侧壁10mm;C 离侧壁一个探头直径的距离处;D 离侧壁二个探头直径的距离处。” 相关考题
考题 通常所称的游动缺陷回波是指用()探测到的。 A、直探头B、斜探头C、联合双探头D、均不能

考题 直探头主要用于探测()的缺陷。

考题 在超声波探伤中,双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷?

考题 与探测面垂直的内部平滑缺陷,最有效的探测方法是()A、单斜探头法B、单直探头法C、双斜探头前后串列法D、分割式双直探头法

考题 饼类锻件最主要探测方向是()A、 直探头端面检测B、 直探头侧面检测C、 斜探头端面检测D、 斜探头侧面检测

考题 提高近表面缺陷的探测能力的方法是()A、用TR探头B、使用窄脉冲宽频带探头C、提高探头频率,减小晶片尺寸D、以上都是

考题 频率()的探头容易产生()的脉冲,因此在探测薄工件和近表面缺陷时,应选择()频率的探头。

考题 表面波探头用于探测工件表面缺陷。

考题 接近探测面并与其平行的缺陷,用下列哪种探头检出效果最佳:()A、联合双探头B、普通直探头C、表面波探头D、横波斜探头

考题 表面波探头用于探测工件()缺陷。A、近表面B、表面C、内部D、平面形

考题 双晶探头用于探测工件近表面缺陷。

考题 探头晶片尺寸(),近场区长度增加,对近表面的缺陷探测不利。

考题 用入射角为36.5°的有机玻璃楔块制作斜探头,用一次声探测钢制工件时,测得某缺陷的声程为141mm,求探头距缺陷的水平距离与缺陷距离探测面的深度?(CL=2730m/s;CS=3250m/s)

考题 双晶探头用于探测工件()缺陷。A、近表面B、表面C、内部D、平面形

考题 频率高的探头容易产生()的脉冲,因此在探测薄工件和近表面缺陷时应选择()频率的探头。

考题 以下哪种探测方法不适宜T型焊缝()。A、直探头在翼板上扫查探测B、斜探头在翼板外侧或内侧扫查探测C、直探头在腹板上扫查探测D、斜探头在腹板上扫查探测

考题 通常所称的游动缺陷回波是指用()探测到的。A、直探头B、斜探头C、联合双探头D、联合单探头

考题 填空题频率()的探头容易产生()的脉冲,因此在探测薄工件和近表面缺陷时,应选择()频率的探头。

考题 填空题频率高的探头容易产生()的脉冲,因此在探测薄工件和近表面缺陷时应选择()频率的探头。

考题 单选题接近探测面并与其平行的缺陷,用下列哪种探头检出效果最佳:()A 联合双探头B 普通直探头C 表面波探头D 横波斜探头

考题 填空题探头晶片尺寸(),近场区长度增加,对近表面的缺陷探测不利。

考题 单选题饼类锻件最主要探测方向是:()A 直探头端面探伤B 直探头侧面探伤C 斜探头端面探伤D 斜探头侧面探伤

考题 单选题与探测面垂直的内部平滑缺陷,最有效的探测方法是:()A 单斜探头法B 单直探头法C 双斜探头前后串列法D 分割式双直探头法

考题 单选题双晶探头用于探测工件()缺陷。A 近表面B 表面C 内部D 平面形

考题 判断题双晶探头用于探测工件近表面缺陷。A 对B 错

考题 单选题分割式探头主要用来()。A 探测离探伤面远的缺陷B 探测离探伤面近的缺陷C 探测与探伤面平行的缺陷

考题 单选题表面波探头用于探测工件()缺陷。A 近表面B 表面C 内部D 平面形