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接近探测面并与其平行的缺陷,用下列哪种探头检出效果最佳:()

  • A、联合双探头
  • B、普通直探头
  • C、表面波探头
  • D、横波斜探头

参考答案

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考题 焊缝用串列探头进行扫查,主要用于检测()A.平行于探测面的缺陷 B.与探测面倾斜的缺陷 C.垂直于探测面的缺陷 D.不能用斜探头检测的缺陷

考题 方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大,该缺陷的取向可能是()A、平行且靠近探测面B、与声束方向平行C、与探测面成较大角度D、平行且靠近底面

考题 焊缝用串列探头进行扫查,主要用于检测()A、平行于探测面的缺陷B、与探测面倾斜的缺陷C、垂直于探测面的缺陷D、不能用斜探头检测的缺陷

考题 单晶片直探头接触法探伤中,与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出,这是因为()A、近场干扰B、材质衰减C、盲区D、折射

考题 轴类锻件,一般来说用纵波直探头作轴向探测,检测效果最佳。

考题 单晶直探头接触法检测中,与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出,这是因为()。A、近场干扰B、衰减C、盲区D、折射

考题 用串联式探头进行操作扫查,主要用来检测()的缺陷。A、平行于探测面B、与探测面倾斜C、垂直于探测面

考题 单晶片探头接触法探伤中,与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出,这是因为盲区。

考题 用单斜探头检查厚焊缝时,与探测面垂直且大而平的缺陷时,最容易()。A、漏伤B、检出伤损C、有利于定量D、B和C

考题 直探头只能发射和接收纵波,波束轴线垂直于探测面,主要用于发现与探测面()的缺陷。A、平行B、垂直C、倾斜D、呈90°

考题 用单斜探头检查厚焊缝时容易漏掉与探测面垂直的大而平的缺陷。

考题 用直探头直接接触于钢板,对厚度方向进行超声波垂直法探伤,它最易检出的是()。A、最大表面与轧制面平行的分层缺陷B、最大表面与轧制面垂直的横向缺陷C、最大表面与轧制面倾斜的缺陷D、与探测面倾斜20°的缺陷

考题 直探头只能发射和接受纵波,波束轴线垂直于探测面,主要用于探测与探测面平行的缺陷。

考题 接近探侧面的且与其平行的缺陷,用下列探头哪一个检出效果最佳()。A、联合双探头B、普通直探头C、表面波探头D、横波斜探头

考题 用直探头对轴类锻件探伤时可分为径向和轴向探测。前者有利于发现轴类锻件常见的()缺陷,后者有利于检出()缺陷。

考题 斜探头主要用于探测与探测面()或成一定角度的缺陷。A、平行B、垂直C、倾斜D、一致

考题 单选题接近探侧面的且与其平行的缺陷,用下列探头哪一个检出效果最佳()。A 联合双探头B 普通直探头C 表面波探头D 横波斜探头

考题 单选题用单斜探头检查厚焊缝时,与探测面垂直且大而平的缺陷时,最容易()。A 漏伤B 检出伤损C 有利于定量D B和C

考题 判断题直探头只能发射和接受纵波,波束轴线垂直于探测面,主要用于探测与探测面平行的缺陷。A 对B 错

考题 单选题接近探测面并与其平行的缺陷,用下列哪种探头检出效果最佳:()A 联合双探头B 普通直探头C 表面波探头D 横波斜探头

考题 单选题单晶直探头接触法检测中,与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出,这是因为()。A 近场干扰B 衰减C 盲区D 折射

考题 单选题用直探头直接接触于钢板,对厚度方向进行超声波垂直法探伤,它最易检出的是()。A 最大表面与轧制面平行的分层缺陷B 最大表面与轧制面垂直的横向缺陷C 最大表面与轧制面倾斜的缺陷D 与探测面倾斜20°的缺陷

考题 单选题单晶片直探头接触法探伤中,与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出,这是因为:()A 近场干扰B 材质衰减C 盲区D 折射

考题 单选题直探头只能发射和接收纵波,波束轴线垂直于探测面,主要用于发现与探测面()的缺陷。A 平行B 垂直C 倾斜D 呈90°

考题 单选题焊缝用串列探头进行扫查,主要用于检测()A 平行于探测面的缺陷B 与探测面倾斜的缺陷C 垂直于探测面的缺陷D 不能用斜探头检测的缺陷

考题 单选题分割式探头主要用来()。A 探测离探伤面远的缺陷B 探测离探伤面近的缺陷C 探测与探伤面平行的缺陷

考题 单选题斜探头主要用于探测与探测面()或成一定角度的缺陷。A 平行B 垂直C 倾斜D 一致