考题
纵波直探头发射垂直于探测面传播的横波进行检测。()
此题为判断题(对，错)。
考题
单探头法探测与波束轴线垂直的缺陷最灵敏。()
此题为判断题(对，错)。
考题
焊缝用串列探头进行扫查，主要用于检测()A.平行于探测面的缺陷
B.与探测面倾斜的缺陷
C.垂直于探测面的缺陷
D.不能用斜探头检测的缺陷
考题
焊缝用串列探头进行扫查，主要用于检测（）A、平行于探测面的缺陷B、与探测面倾斜的缺陷C、垂直于探测面的缺陷D、不能用斜探头检测的缺陷
考题
与探测面垂直的内部平滑缺陷，最有效的探测方法是（）A、单斜探头法B、单直探头法C、双斜探头前后串列法D、分割式双直探头法
考题
纵波直探头法主要用于检测与检测面平行的缺陷。
考题
用串联式探头进行操作扫查，主要用来检测（）的缺陷。A、平行于探测面B、与探测面倾斜C、垂直于探测面
考题
直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面．主要用于探测与探测面（）的缺陷。
考题
直探头只能发射和接收纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于发现与探测面（）的缺陷。A、平行B、垂直C、倾斜D、呈90°
考题
斜探头通常是经过（）来实现横波探伤的。主要用于探测与探测面（）或（）的缺陷。
考题
直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于探测与探测面平行的缺陷。
考题
斜探头主要用于探测与探测面（）或成一定角度的缺陷。
考题
斜探头主要用于探测与探测面垂直或成一定角度的缺陷。
考题
纵波直探头主要用于检测与检测面平行或近似垂直的缺陷。
考题
单探头法探测与波束轴线（）缺陷最易发现。A、平行的B、垂直的C、倾斜的
考题
斜探头主要用于探测与探测面（）或成一定角度的缺陷。A、平行B、垂直C、倾斜D、一致
考题
填空题直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面．主要用于探测与探测面（）的缺陷。
考题
判断题直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于探测与探测面平行的缺陷。A
对B
错
考题
填空题斜探头主要用于探测与探测面（）或成一定角度的缺陷。
考题
单选题单探头法探测与波束轴线（）缺陷最易发现。A
平行的B
垂直的C
倾斜的
考题
填空题斜探头通常是经过（）来实现横波探伤的。主要用于探测与探测面（）或（）的缺陷。
考题
判断题斜探头主要用于探测与探测面垂直或成一定角度的缺陷。A
对B
错
考题
判断题单探头法探测与波束轴线垂直的缺陷最灵敏。A
对B
错
考题
单选题焊缝用串列探头进行扫查，主要用于检测（）A
平行于探测面的缺陷B
与探测面倾斜的缺陷C
垂直于探测面的缺陷D
不能用斜探头检测的缺陷
考题
单选题分割式探头主要用来（）。A
探测离探伤面远的缺陷B
探测离探伤面近的缺陷C
探测与探伤面平行的缺陷
考题
判断题纵波直探头法主要用于检测与检测面平行的缺陷。A
对B
错
