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单晶直探头接触法检测中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为（）。

  • A、近场干扰
  • B、衰减
  • C、盲区
  • D、折射

参考答案

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考题 焊缝用串列探头进行扫查，主要用于检测（）A、平行于探测面的缺陷B、与探测面倾斜的缺陷C、垂直于探测面的缺陷D、不能用斜探头检测的缺陷
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考题 在直接接触法直探头检测时，底波消失的原因是（）。A、耦合不良B、存在与声束不垂直的平面缺陷C、存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D、以上都可能造成底波消失
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考题 接近探测面并与其平行的缺陷，用下列哪种探头检出效果最佳：（）A、联合双探头B、普通直探头C、表面波探头D、横波斜探头
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考题 直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面．主要用于探测与探测面（）的缺陷。
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考题 用直探头直接接触于钢板，对厚度方向进行超声波垂直法探伤，它最易检出的是（）。A、最大表面与轧制面平行的分层缺陷B、最大表面与轧制面垂直的横向缺陷C、最大表面与轧制面倾斜的缺陷D、与探测面倾斜20°的缺陷
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考题 直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于探测与探测面平行的缺陷。
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考题 纵波直探头主要用于检测与检测面平行或近似垂直的缺陷。
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考题 填空题直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面．主要用于探测与探测面（）的缺陷。
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考题 单选题下述无损检测中，能够检测锻件折叠缺陷的方法是（）A UT直探头直接接触法B UT斜直探头直接接触法C MT线圈磁化法D MT磁轭磁化法
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考题 判断题直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于探测与探测面平行的缺陷。A 对B 错
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