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测量平面度误差时，常将平面平晶工作面贴在被测表面上，并稍加压力，就会有干涉条纹出现。干涉条纹越多，则平面度误差（）。

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更多 “测量平面度误差时，常将平面平晶工作面贴在被测表面上，并稍加压力，就会有干涉条纹出现。干涉条纹越多，则平面度误差（）。” 相关考题
考题 在光学计或测长机上测量平工作面量杆时应采用球面测帽。如果是测量球工作面量杆,则应采用平面测帽进行。() 此题为判断题(对，错)。
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考题 常用的平面度的测量方法（）。A、光隙法B、测微仪法C、平晶法D、水平仪法
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考题 使用平面平晶、平行平晶测量前，必须擦净平晶的测量面和被测表面，否则会影响（）的产生，甚至会（）。
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考题 用平晶检定测量面的平面度时，其计算平面度的公式为F=λb/2a或F=n.λ/2，式中λ在任何条件下都为0.6。
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考题 量块的工作面是一对平行且（）误差极小的平面，又称测量面。A、平行度B、垂直度C、平面度D、表面粗糙度
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考题 用平晶测量平面度误差时应如何评定？
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考题 直线度误差测量方法中的测微法是指（）。A、将被测件支撑在精确平板上，通过指示器（如百分表）进行比较测量，得出直线度误差值B、将平晶直接放在被测表面上，通过观察干涉带，进行计算出测量直线度误差值C、用刀口尺与实际形状相接触，通过目估、塞尺检验或与标准光隙比较而得到测量直线度误差值D、以测微准值望远镜或自准值仪所发出的光线为测量基线，测出测量直线度误差值
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考题 直接用直角尺测量面与面的垂直度误差，容易受到（）的影响。A、基准平面形状误差B、基准平面尺寸精度C、被测平面表面粗糙度D、被测平面尺寸精度
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考题 以下列举了几种测量直线度误差的方法。其中，（）最简便实用，适用于小平面或短圆柱面素线的直线度误差测量。A、光学平晶等厚干涉法B、测微法C、激光准值仪法D、光隙法
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考题 测量高精度的小平面的平面度误差宜用（）。A、准直望远镜B、罐式水平量器C、平晶
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考题 用同轴圆柱导向套筒测量轴的同轴度误差时，在被测零件回转一周过程中指示器读数最大差值，即为单个测量平面上的径向跳动。
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考题 用间接测量法测量平面度误差时，评定平面度误差时包容且距离为最小的俩（）平面间的距离。
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考题 用对角线法测量平面度的实质是通过表面上的一条对角线且平行于第一条对角线的平面作为评定基面（理想平面），以各测点至评定基面的最大正值和最大负值的绝对值之和作为被测平面的平面度误差。
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考题 用光线基准法测量平面度的方法，是以三点定一面确定测量基准面的。为减少其误差影响，在调整时选定在被测表面上相距（）的三点确定测量基面。
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考题 平面平晶法多用于测量（）水平面的工件。
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考题 检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。
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考题 在白光情况下，用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时，受检工作面的平面度一般应不大于（）。A、0.001mmB、0.002mmC、0.003mm
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考题 如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度？
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考题 以技术光波干涉法检定深度千分尺基座工作面的平面度所用的2级平晶，其工作面的平面度不大于（）A、0.03umB、0.05umC、0.10um
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考题 在检定平晶平面度时，如果用手角摸平晶进行调整的时间过长，会使平晶的平面度（）。A、变凹B、变凸C、不变
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考题 检定千分尺测量面平面度时，初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹，主要原因是什么？
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考题 用平晶检定工作面的平面度，是一种光波干涉法测量，那么产生光波干涉的条件是什么？
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考题 在光学计或测长机上测量平工作面量杆时应采用球面测帽。如果是测量球工作面量杆，则应采用平面测帽进行。
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考题 填空题使用平面平晶、平行平晶测量前，必须擦净平晶的测量面和被测表面，否则会影响（）的产生，甚至会（）。
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考题 多选题常用的平面度的测量方法（）。A光隙法B测微仪法C平晶法D水平仪法
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考题 判断题在光学计或测长机上测量平工作面量杆时应采用球面测帽。如果是测量球工作面量杆，则应采用平面测帽进行。A 对B 错
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考题 问答题检定千分尺测量面平面度时，初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹，主要原因是什么？
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