考题
千分尺的平面度是用()平面平晶进行检定的,它是根据()原理,利用光波干涉法进行的。
考题
外径千分尺平面度用二级平晶按（）检定A、光波法B、光干涉法C、光条纹法D、干涉条纹法
考题
用平晶检定千分尺工作面时，如干涉条纹向内跑即为（）A、中凹B、中凸C、平面D、波形
考题
用平晶检定千分尺工作面时出现“一片色”（没有明显条纹），则说明（）很好A、平面度B、平行度C、光洁度D、准确度
考题
检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。
考题
用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，当千分尺测量面与平行平晶接触时，必须在测力作用下接触，也可以转动微分筒接触。
考题
如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度？
考题
怎样用Ⅰ、Ⅱ组平行平晶检定大于50～150mm千分尺的平行度？
考题
以技术光波干涉法检定深度千分尺基座工作面的平面度所用的2级平晶，其工作面的平面度不大于（）A、0.03umB、0.05umC、0.10um
考题
在检定平晶平面度时，如果用手角摸平晶进行调整的时间过长，会使平晶的平面度（）。A、变凹B、变凸C、不变
考题
测量范围为（25~50）mm的千分尺，其测量面的平行度用何尺寸的平行平晶检定？
考题
对于千分尺测量面的平行度，可以用平行平晶检定，也可用量块进行检定，但用量块检定比用平行平晶检定精度高。
考题
用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，平行度如何确定？
考题
检定千分尺测量面平面度时，初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹，主要原因是什么？
考题
千分尺两测量面的平行度可用平行平晶检定。目前，我国生产的平行平晶共分四组，可用来检定0～100mm四个规格的千分尺平行度。
考题
判断题对于千分尺测量面的平行度，可以用平行平晶检定，也可用量块进行检定，但用量块检定比用平行平晶检定精度高。A
对B
错
考题
问答题怎样用Ⅰ、Ⅱ组平行平晶检定大于50～150mm千分尺的平行度？
考题
问答题如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度？
考题
判断题检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。A
对B
错
考题
判断题千分尺两测量面的平行度可用平行平晶检定。目前，我国生产的平行平晶共分四组，可用来检定0～100mm四个规格的千分尺平行度。A
对B
错
考题
单选题用平晶检定千分尺工作面时，如干涉条纹向内跑即为（）A
中凹B
中凸C
平面D
波形
考题
问答题检定千分尺测量面平面度时，初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹，主要原因是什么？
考题
填空题外径千分尺测量面平行度，可以用平行平晶也可以用量块检定。但是在用量块检定时，应选择尺寸在杠杆千分尺测量上、下限之间的量块，其尺寸间隔为测杆的（）的四块量块。
考题
判断题用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，当千分尺测量面与平行平晶接触时，必须在测力作用下接触，也可以转动微分筒接触。A
对B
错
考题
单选题用平晶检定千分尺工作面时出现“一片色”（没有明显条纹），则说明（）很好A
平面度B
平行度C
光洁度D
准确度
考题
问答题测量范围为（25~50）mm的千分尺，其测量面的平行度用何尺寸的平行平晶检定？
考题
问答题用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，平行度如何确定？
