考题
千分尺的平面度是用()平面平晶进行检定的,它是根据()原理,利用光波干涉法进行的。
考题
使用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,应依次将四块厚度差为()螺距的平行平晶放入两测量面间,并调整平晶使其接触点在()时读数。
考题
在使用平晶时,如果用手触摸平晶时间过长,会使平晶平面度()。
A、变凹B、变凸C、不变
考题
用平面平晶检定量具表面平面度时,当入射角不变,而厚度各处有变化,干涉带发生于厚度相等的地方,这种现象称为()。
A、球面干涉B、等厚干涉C、等倾干涉
考题
使用平面平晶、平行平晶测量前，必须擦净平晶的测量面和被测表面，否则会影响（）的产生，甚至会（）。
考题
用平面平晶检验工件表面平面度时，当入射角不变，而厚度各处有变化，干涉带发生于厚度（）的地方，这种现象称为（）。
考题
用平晶检定测量面的平面度时，其计算平面度的公式为F=λb/2a或F=n.λ/2，式中λ在任何条件下都为0.6。
考题
用平晶检定千分尺工作面时，如干涉条纹向内跑即为（）A、中凹B、中凸C、平面D、波形
考题
用平晶检定千分尺工作面时出现“一片色”（没有明显条纹），则说明（）很好A、平面度B、平行度C、光洁度D、准确度
考题
检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。
考题
如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度？
考题
对于千分尺测量面的平行度，可以用平行平晶检定，也可用量块进行检定，但用量块检定比用平行平晶检定精度高。
考题
检定千分尺测量面平面度时，初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹，主要原因是什么？
考题
用平行平晶来检定杠杆式卡规，两测量面的平行度，检定所需平晶数的（）。A、一块B、二块C、三块
考题
用平晶检定工作面的平面度，是一种光波干涉法测量，那么产生光波干涉的条件是什么？
考题
将平面平晶放在工件表面上，如果工件表面是标准平面，则产生的干涉条纹是（）；如果工件表面呈凸、凹，则将看到若干个（）条纹。
考题
问答题检定千分尺测量面平面度时，初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹，主要原因是什么？
考题
判断题用平晶检定测量面的平面度时，其计算平面度的公式为F=λb/2a或F=n.λ/2，式中λ在任何条件下都为0.6。A
对B
错
考题
问答题如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度？
考题
判断题检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。A
对B
错
考题
单选题用平晶检定千分尺工作面时，如干涉条纹向内跑即为（）A
中凹B
中凸C
平面D
波形
考题
填空题将平面平晶放在工件表面上，如果工件表面是标准平面，则产生的干涉条纹是（）；如果工件表面呈凸、凹，则将看到若干个（）条纹。
考题
单选题在使用平晶时，如果用手触摸平晶时间过长，会使平晶平面度（）。A
变凹B
变凸C
不变
考题
判断题对于千分尺测量面的平行度，可以用平行平晶检定，也可用量块进行检定，但用量块检定比用平行平晶检定精度高。A
对B
错
考题
填空题用平面平晶检验工件表面平面度时，当入射角不变，而厚度各处有变化，干涉带发生于厚度（）的地方，这种现象称为（）。
考题
单选题用平面平晶检定量具表面平面度时，当入射角不变，而厚度各处有变化，干涉带发生于厚度相等的地方，这种现象称为（）。A
球面干涉B
等厚干涉C
等倾干涉
