考题
使用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,应依次将四块厚度差为()螺距的平行平晶放入两测量面间,并调整平晶使其接触点在()时读数。
考题
用平面平晶检查平面度时,若出现3条直的,互相平行而等间隔的干涉条纹,则其平面度为()。
A、0.9μmB、0C、1.8μm
考题
若用平晶检测被测件,测量面上的干涉条纹为园形时,其测量面的凹凸情况可以这样进行判定:在平晶中央加压,若干涉条纹向内跑,则说明测量面中间是()。
A、平B、凸C、凹
考题
激光测长仪和激光测振仪均以迈克尔逊干涉仪为基础，前者通过计算干涉条纹数的变化来测量长度，后者通过测定检测光与参照光的相位差所形成的干涉条纹数而测量振幅。()
考题
测量时零件绕基准轴线回转,测量用指示表的测头接触被测要素,回转时指示表指针的跳动量就是圆跳动的数值,指示表测头指在圆柱面上为径向圆跳动。()
此题为判断题(对，错)。
考题
使用平面平晶、平行平晶测量前，必须擦净平晶的测量面和被测表面，否则会影响（）的产生，甚至会（）。
考题
用平面平晶检查平面度时，若出现3条直的，互相平行而等间隔干涉条纹，则其平面度为（）。A、0.9μmB、0C、1.8μm
考题
当被测件为球形时，测量仪器的测头通常选（）。如果被测件为矩形时，测量仪器的测头则通常选（）。
考题
用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A、球面干涉B、等倾干涉C、等厚干涉
考题
测量平面度误差时，常将平面平晶工作面贴在被测表面上，并稍加压力，就会有干涉条纹出现。干涉条纹越多，则平面度误差（）。
考题
用半晶干涉法测量小平面的平面度，这种测量方法符合（）。A、最小条件B、包容原则C、相关原则
考题
用平晶检测平面度，有时看不见干涉条纹，这可能是由于（）。A、被测表面不光洁B、被测表面平面度很差C、被测表面有毛刺D、非金属材料表面折光不好
考题
用平行平晶检定测微类量具的测量面平行性时，应在千分尺的测量范围内（）选择和使用。
考题
用平晶检定千分尺工作面时出现圆形干涉条纹，则说明工作面为（）面A、平B、球C、波形D、倾斜
考题
用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A、球面干涉B、等倾干涉C、等厚干涉
考题
测量范围为（25~50）mm的千分尺，其测量面的平行度用何尺寸的平行平晶检定？
考题
检定千分尺测量面平面度时，初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹，主要原因是什么？
考题
用平晶检定工作面的平面度，是一种光波干涉法测量，那么产生光波干涉的条件是什么？
考题
用等厚干涉测量平直度时，两条相邻干涉条纹所对应的空气隙厚度差为（）。A、1／2入B、入
考题
单选题若用平晶检测被测件，测量面上的干涉条纹为园形时，其测量面的凹凸情况可以这样进行判定：在平晶中央加压，若干涉条纹向内跑，则说明测量面中间是（）。A
平B
凸C
凹
考题
单选题用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A
球面干涉B
等倾干涉C
等厚干涉
考题
填空题使用平面平晶、平行平晶测量前，必须擦净平晶的测量面和被测表面，否则会影响（）的产生，甚至会（）。
考题
填空题当被测件为球形时，测量仪器的测头通常选（）。如果被测件为矩形时，测量仪器的测头则通常选（）。
考题
单选题用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A
球面干涉B
等倾干涉C
等厚干涉
考题
单选题用平面平晶检查平面度时，若出现3条直的，互相平行而等间隔干涉条纹，则其平面度为（）。A
0.9μmB
0C
1.8μm
考题
单选题用平面平晶检查平面度时，若出现3条直的，互相平行而等间隔的干涉条纹，则其平面度为（）。A
0.9μmB
0C
1.8μm
考题
问答题检定千分尺测量面平面度时，初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹，主要原因是什么？
考题
问答题测量范围为（25~50）mm的千分尺，其测量面的平行度用何尺寸的平行平晶检定？
