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单选题
用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。
A

球面干涉

B

等倾干涉

C

等厚干涉

参考答案

参考解析
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考题 在白光情况下，用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时，受检工作面的平面度一般应不大于（）。A、0.001mmB、0.002mmC、0.003mm
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考题 若有一量具工作面的平面度为0.010mm，为了达到检定结果的准确起见，该工作面的平面度采用合适的检定方法为（）A、用刀口尺以光隙法检定B、用平晶以技术光波干涉法检定C、用刀口尺以量块比较法检定
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考题 若有一量具工作面的平面度为0.010mm，为了达到检定结果的准确起见，该工作面的平面度采用合适的检定方法为（）。A、用刀口尺以光隙法检定B、用平晶的技术光波干涉法检定C、用刀口尺以量块比较法检定
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考题 用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A、球面干涉B、等倾干涉C、等厚干涉
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考题 用平晶检定工作面的平面度，是一种光波干涉法测量，那么产生光波干涉的条件是什么？
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考题 用等厚干涉法检定平品平面度时，在整个视场中干涉条纹的条数以调整到如下情况为最宜（）。A、干涉条纹尽量少B、2条或4条C、3条或5条
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考题 单选题用等厚干涉法检定平品平面度时，在整个视场中干涉条纹的条数以调整到如下情况为最宜（）。A 干涉条纹尽量少B 2条或4条C 3条或5条
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考题 单选题用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A 球面干涉B 等倾干涉C 等厚干涉
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考题 单选题长边尺寸为1000mm的直角尺，其工作面的平面度或直线度的检定，通常采用的检定方法是（）。A 用刀口尺以光隙法检定B 用平晶以技术光波干涉法分段检定C 用自准直仪以节距法检定
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