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单选题
以下哪种原因引起的误差可通过多做平行试验进行克服（）
A

试剂不纯

B

天平不准

C

室温波动

D

方法本身的不足

参考答案

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考题 系统误差是( )。A．由某种确定的原因引起的，一般有固定的方向和大小，重复测定时重复出现B．由某种确定的原因引起的，一般没有固定的方向和大小，正负误差出现的概率大致相同C．由偶然的原因引起的，一般没有固定的方向和大小，正负误差出现的概率大致相同D．由某种确定的原因引起的，可通过增加平行测定的次数减小误差E．由偶然的原因引起的，可通过增加平行测定的次数减小误差
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考题 测定环境引入的随机误差，可通过()来消除。A.对照分析B.空白试验C.增加平行试验D.校正仪器
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考题 可用下法中哪种方法减小分析测定中的偶然误差?( )A.进行对照试验B.进行空白试验C.进行仪器检准D.进行分析结果校正E.增加平行试验的次数
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考题 测定环境引入的随机误差，可通过( )来消除。A.对照分析B.空白实验C.增加平行试验D.校正仪器
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考题 可用下述哪种方法减小测定过程中的偶然误差？( )A.进行空白试验 B.进行仪器校准 C.增加平行测定次数 D.进行分析结果校正
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考题 以下哪些原因引起的误差无法通过多做平行试验进行克服（）A、试剂不纯B、天平不准C、室温波动D、方法本身的不足E、操作的偶然失误
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考题 （）不是减少系统误差的方法。A、进行对照试验B、进行空白试验C、提纯试剂D、增加平行试验
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考题 以下哪种原因引起的误差可通过多做平行试验进行克服（）A、试剂不纯B、天平不准C、室温波动D、方法本身的不足
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考题 可用下法中哪种方法减小分析测定中的偶然误差（）A、进行对照实验B、进行空白试验C、进行仪器校准D、增加平行试验的次数E、使用新的滴定管
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考题 消除或减小试剂中微量杂质引起的误差常用的方法是（）A、空白试验B、对照试验C、平行试验D、校准仪器
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考题 可用下列哪种方法减少测定中的偶然误差（）。A、进行对照试验B、空白试验C、增加平行试验次数D、进行仪器校正
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考题 在以下各项措施中，可以减小分析测试中的偶然误差的是（）。A、进行仪器校正B、增加平行测定次数C、对照试验D、空白试验
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考题 可用哪种方法减少分析测试中的偶然误差（）A、进行对照试验B、进行空白试验C、增加平行试验的次数D、进行仪器的校准
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考题 测定环境引入的随机误差，可通过（）来消除。A、对照分析B、空白试验C、增加平行试验D、校正仪器
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考题 下列哪种方式，可以减少分析方法的偶然误差（）A、进行对照实验B、进行空白试验C、进行仪器校准D、进行分析结果校正E、增加平行测定次数
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考题 可用下列哪种试验方法减小分析测试中的偶然误差（）A、对照试验B、空白试验C、多次平行试验取平均值D、回收试验
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考题 判断题只要多做几次平行测定，就可避免随机误差对测定结果的影响。A 对B 错
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考题 单选题可用哪种方法减少分析测试中的偶然误差（）A 进行对照试验B 进行空白试验C 增加平行试验的次数D 进行仪器的校准
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考题 单选题下列哪种方式，可以减少分析方法的偶然误差（）A 进行对照实验B 进行空白试验C 进行仪器校准D 进行分析结果校正E 增加平行测定次数
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考题 单选题测定环境引入的随机误差，可通过（）来消除。A 对照分析B 空白试验C 增加平行试验D 校正仪器
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考题 多选题以下哪些原因引起的误差无法通过多做平行试验进行克服（）A试剂不纯B天平不准C室温波动D方法本身的不足E操作的偶然失误
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考题 单选题可用下法中哪种方法减小分析测定中的偶然误差（）A 进行对照实验B 进行空白试验C 进行仪器校准D 增加平行试验的次数E 使用新的滴定管
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考题 判断题园筒体纵向焊缝横向收缩引起的直径误差，可通过预留收缩余量法加以克服。A 对B 错
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考题 单选题（）不是减少系统误差的方法。A 进行对照试验B 进行空白试验C 提纯试剂D 增加平行试验
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