考题
测定环境引入的随机误差，可通过()来消除A.对照分析B.空白试验C.增加平衡试验D.校正仪器
考题
减少分析测定中偶然误差的方法为（ ）。A．进行对照试验B．进行空白试验C．进行仪器校准D．进行分析结果校正E．增加平行试验次数
考题
消除系统误差的方法有哪些()。
A、增加平行测定的次数B、做空白试验C、校正仪器D、做对照试验。
考题
测定环境引入的随机误差，可通过()来消除。A.对照分析B.空白试验C.增加平行试验D.校正仪器
考题
为了提高测定的准确度，通常需要消除测定中的系统误差，下列的各种措施中哪一种不能消除测定中的系统误差()。A.空白试验B.校正仪器C.对照试验D.增加平行测定次数
考题
可用下法中哪种方法减小分析测定中的偶然误差?( )A.进行对照试验B.进行空白试验C.进行仪器检准D.进行分析结果校正E.增加平行试验的次数
考题
在下列方法中可以减少分析中偶然误差的是( )A.增加平行试验的次数B.进行对照实验C.进行空白试验D.进行仪器的校正
考题
为减少分析测定中的偶然误差，可采用A．增加平行试验次数B．做试剂空白C．样本空白D．校正仪器E．对照实验
考题
为减少分析测定中的偶然误差，可采用A、增加平行试验次数B、试剂空白C、样本空白D、校正仪器E、对照实验
考题
下列方法中( )可以减少分析中的偶然误差。A.进行空白试验B.进行对照试验C.仪器进行校正D.增加平行测定次数
考题
滴定分析中，若怀疑试剂已失效，可通过( )方法进行验证。A.仪器校正B.对照分析C.空白实验D.多次测定
考题
由于试剂中含有干扰杂质所产生的系统误差，应通过()来消除。A.对照分析B.空白试验C.增加平行试验D.校正仪器
考题
下列哪种方式，可以减少分析方法的偶然误差A.进行对照实验
B.进行空白试验
C.进行仪器校准
D.进行分析结果校正
E.增加平行测定次数
考题
减少分析测定中偶然误差的方法为( )A.进行分析结果校正
B.进行仪器校准
C.进行对照试验
D.进行空白试验
E.增加平行测定次数
考题
下列方法中可以减少分析方法偶然误差的是A.增加平行测定次数
B.进行分析结果校正
C.进行对照实验
D.进行空白试验
E.进行仪器校准
考题
下列试验方法中，不能发现并消除系统误差的操作是( )。A.对照试验
B.空白实验
C.改变测定次数
D.仪器校正
考题
为减少分析测定中的偶然误差，可采用（）A、增加平行试验次数B、做试剂空白C、样本空白D、校正仪器E、对照实验
考题
消除系统误差的方法有（）。A、增加平行测定的次数B、做空白试验C、校正仪器D、做对照试验
考题
消除测定中系统误差可以采取（）措施A、选择合适的分析方法B、做空白试验C、增加平行测定次数D、校正仪器E、做对照试验
考题
可用下列何种方法来减少分析测定中的偶然误差（）。A、进行空白实验B、适当增加平行测定次数C、进行仪器校正D、进行对照实验
考题
由于试剂中含有干扰杂质所产生的系统误差，应通过（）来消除。A、对照分析B、空白试验C、增加平行试验D、校正仪器
考题
测定环境引入的随机误差，可通过（）来消除。A、对照分析B、空白试验C、增加平行试验D、校正仪器
考题
可减小随机误差的方法是（）A、进行仪器校正B、作对照试验C、作空白试验D、增加平行测定次数
考题
多选题消除测定中系统误差可以采取（）措施。A选择合适的分析方法B做空白试验C增加平行测定次数D校正仪器E做对照试验
考题
单选题为减少分析测定中的偶然误差，可采用（）。A
增加平行试验次数B
做试剂空白C
样本空白D
校正仪器E
对照实验
考题
单选题由于试剂中含有干扰杂质所产生的系统误差，应通过（）来消除。A
对照分析B
空白试验C
增加平行试验D
校正仪器
考题
单选题测定环境引入的随机误差，可通过（）来消除。A
对照分析B
空白试验C
增加平行试验D
校正仪器